Fig. 6 Scanning electron micrograph

Fig. 6 Scanning electron micrographs (backscattered electrons, 7509) of the cross section of PEO coatings formed on AM50 magnesium alloy
samples treated for 60 s at 0.1 A cm-2 (a), 0.35 A cm-2 (b) and 0.45 A cm-2 (c)

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Micrographs อิเล็กตรอนการสแกน fig. 6 (backscattered อิเล็กตรอน 7509) ส่วนขนของเคลือบสาธารณรัฐประชาธิปไตยเกิดขึ้นในโลหะผสมแมกนีเซียม AM50ตัวอย่างที่ถือว่า 60 s ที่ 0.1 A ซม.-2 (a), 0.35 A ซม.-2 (b) และ 0.45 A ซม.-2 (c)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูป 6 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกน (อิเล็กตรอนสะท้อน, 7509) ของภาคตัดขวางของการเคลือบ PEO เกิดขึ้นบนโลหะผสมแมกนีเซียม AM50
ตัวอย่างได้รับการรักษาเป็นเวลา 60 วินาทีที่ 0.1 ซม-2 (a) 0.35 ซม-2 (ข) และ 0.45 ซม 2 (ค)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ภาพที่ 6 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกน ( backscattered อิเล็กตรอน 7509 ) ของภาคตัดขวางของการเคลือบโลหะผสมแมกนีเซียมตัวอย่างเป้าหมายที่เกิดขึ้น
am50 ถือว่า 60 s ที่ 0.1 เป็น cm-2 ( A ) , ( B ) เป็น cm-2 0.35 และ 0.45 เป็น cm-2 ( C )