It is essential to characterize pow

It is essential to characterize power MosFETs regarding
their tolerance to destructive Single Event Burnouts
(SEB). Therefore, several non-destructive test methods have been
developed to evaluate the SEB cross-section of power devices. A
power MosFET has been evaluated using a test circuit, designed
according to standard non-destructive test methods discussed in
the literature. Guidelines suggest a prior adaptation of auxiliary
components to the device sensitivity before the radiation test.With
the first value chosen for the de-coupling capacitor, the external
component initiated destructive events and affected the evaluation
of the cross-section. As a result, the influence of auxiliary
components on the device cross-section was studied. This paper
presents the obtained experimental results, supported by SPICE
simulations, to evaluate and discuss how the circuit effectiveness
depends on the external components.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

จำเป็นต้องกำหนดลักษณะ power MosFETs เกี่ยวกับการยอมรับตน burnouts ไม่เคยทำลายเหตุการณ์เดียว(SEB) ดังนั้น มีหลายวิธีการทดสอบแบบไม่ทำลายพัฒนาขึ้นเพื่อประเมินขวาง SEB ของอุปกรณ์ไฟฟ้า Apower MosFET ได้รับการประเมินโดยใช้วงจรการทดสอบ การออกแบบตามวิธีการทดสอบแบบไม่ทำลายมาตรฐานที่กล่าวถึงในวรรณกรรม แนะนำแนวทางการปรับตัวก่อนของเสริมคอมโพเนนต์เพื่อความไวของอุปกรณ์ก่อนการตรวจรังสี ด้วยค่าแรกที่เลือกสำหรับตัวเก็บประจุ de-coupling ภายนอกคอมโพเนนต์เริ่มต้นทำลายกิจกรรม และผลการประเมินของหน้าตัดรายขวาง เป็นผล อิทธิพลของเสริมเป็นศึกษาองค์ประกอบในส่วนข้ามอุปกรณ์ กระดาษนี้นำเสนอผลการทดลองได้รับ ได้รับการสนับสนุน โดยเครื่องเทศจำลอง ประเมิน และพูดคุยวิธีประสิทธิภาพวงจรขึ้นอยู่กับส่วนประกอบภายนอก

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

มันเป็นสิ่งสำคัญที่จะอธิบายลักษณะ MOSFETs อำนาจเกี่ยวกับ
ความอดทนของพวกเขาเพื่อทำลายเดี่ยว burnouts เหตุการณ์
(SEB) ดังนั้นวิธีการทดสอบแบบไม่ทำลายหลายคนได้รับ
การพัฒนาขึ้นเพื่อประเมิน SEB ข้ามส่วนของอุปกรณ์พลังงาน
MOSFET พลังงานที่ได้รับการประเมินโดยใช้วงจรการทดสอบได้รับการออกแบบ
ตามวิธีการทดสอบแบบไม่ทำลายมาตรฐานที่กล่าวถึงใน
วรรณคดี แนวทางการแนะนำการปรับตัวก่อนเสริม
ส่วนประกอบความไวอุปกรณ์ก่อนการฉายรังสี test.With
ค่าแรกที่ได้รับเลือกสำหรับตัวเก็บประจุ de-coupling ภายนอก
ส่วนประกอบริเริ่มเหตุการณ์ทำลายและได้รับผลกระทบการประเมินผล
ของ cross-section เป็นผลให้อิทธิพลของเสริม
ส่วนประกอบในอุปกรณ์ตัดการศึกษา บทความนี้
นำเสนอผลการทดลองที่ได้รับการสนับสนุนจากเครื่องเทศ
จำลองเพื่อประเมินและหารือเกี่ยวกับวิธีการที่มีประสิทธิภาพวงจร
ขึ้นอยู่กับองค์ประกอบภายนอก

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สรุปลักษณะของมอสเฟตกำลังเกี่ยวกับความอดทนของพวกเขาที่จะทำลายพวกประหลาด เหตุการณ์เดียว( SEB ) ดังนั้น หลาย วิธีการทดสอบแบบไม่ทำลายได้พัฒนาขึ้นเพื่อประเมิน SEB ตัดของอุปกรณ์ไฟฟ้า เป็นเพาเวอร์มอสเฟตได้รับการประเมินโดยใช้แบบทดสอบวงจร , ออกแบบตามมาตรฐานวิธีการทดสอบแบบไม่ทำลายได้ในวรรณกรรม แนวทางแนะนำการปรับตัวก่อนเสริมชิ้นส่วนอุปกรณ์ไวก่อนรังสีการทดสอบ กับครั้งแรกค่า เลือกสำหรับ เดอ การเชื่อมต่อตัวเก็บประจุภายนอกส่วนเหตุการณ์และได้รับผลการประเมินการริเริ่มของตัด . เป็นผลมาจาก อิทธิพลของการเสริมส่วนประกอบในอุปกรณ์ตัดดิน กระดาษนี้นำเสนอผลการทดลอง สนับสนุนโดย เครื่องเทศแบบจำลองเพื่อประเมินประสิทธิผลและหารือเกี่ยวกับวิธีวงจรขึ้นอยู่กับองค์ประกอบภายนอก