As can be seen from Fig. 4A, the DP

As can be seen from Fig. 4A, the DPV signal was enhanced along with the increasing concentration of BPR. Fig. 4B demonstrates the linear relationship between concentrations of BPR and the DPV current responses of the electrode in the presence of 0.24 mM SDS under the optimized instrument parameters and experimental conditions. The peak current increased linearly against the concentration of BPR on the two ranging from 4.00 nM to 0.126 μM (R2 = 0.9985) and from 0.126 to 0.317 μM (R2 = 0.9560). The detection limit for BPR was calculated to be 1.33 nM based on S/N = 3. A low detection limit and wide linear range were obtained at CPE in the presence of SDS compared to the other reports (Table 2).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ที่เห็นได้ชัดเจนจาก Fig. 4A สัญญาณ DPV ถูกเพิ่มขึ้นพร้อมเพิ่มความเข้มข้นของ BPR Fig. 4B แสดงให้เห็นถึงความสัมพันธ์เชิงเส้นระหว่างความเข้มข้นของ BPR และการตอบสนองปัจจุบัน DPV ของอิเล็กโทรดในต่อหน้าของ SDS มม. 0.24 ภายใต้พารามิเตอร์ให้เหมาะมือและเงื่อนไขการทดลอง ปัจจุบันสูงสุดเพิ่มขึ้นเชิงเส้นกับความเข้มข้นของ BPR ในสองตั้งแต่ 4.00 nM เพื่อ 0.126 μM (R2 = 0.9985) จาก 0.126 กับ 0.317 μM (R2 = 0.9560) คำนวณขีดจำกัดตรวจ BPR เป็น 1.33 nM ตาม S/N = 3 ต่ำสุดที่ตรวจสอบวงเงินและช่วงกว้างเชิงได้รับที่ CPE ในต่อหน้าของ SDS เมื่อเปรียบเทียบกับรายงานอื่น (ตารางที่ 2)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ที่สามารถมองเห็นได้จากรูป 4A สัญญาณ DPV ถูกเพิ่มพร้อมกับความเข้มข้นที่เพิ่มขึ้นของ BPR มะเดื่อ 4B แสดงให้เห็นถึงความสัมพันธ์เชิงเส้นระหว่างความเข้มข้นของ BPR และการตอบสนองในปัจจุบันของ DPV ขั้วไฟฟ้าในที่ที่ 0.24 มิลลิ SDS ภายใต้พารามิเตอร์ที่ใช้ในการเพิ่มประสิทธิภาพและเงื่อนไขการทดลอง เพิ่มขึ้นสูงสุดในปัจจุบันเป็นเส้นตรงกับความเข้มข้นของ BPR ทั้งสองตั้งแต่ 4.00 นาโนเมตรเพื่อ 0.126 ไมครอน (R2 = 0.9985) และ 0.126-0.317 ไมครอน (R2 = 0.9560) ขีด จำกัด ของการตรวจสอบสำหรับ BPR ที่คำนวณได้จะเป็น 1.33 นาโนเมตรขึ้นอยู่กับ S / N = 3. การตรวจสอบวงเงินต่ำเชิงเส้นและช่วงกว้างที่ได้รับที่ CPE ในการปรากฏตัวของ SDS เมื่อเทียบกับรายงานอื่น ๆ (ตารางที่ 2)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ที่สามารถเห็นได้จากรูปที่ 4a , สัญญาณ dpv เพิ่มขึ้นพร้อมกับการเพิ่มความเข้มข้นของ BPR . รูปที่ 4B แสดงความสัมพันธ์เชิงเส้นตรงระหว่างความเข้มข้นของ BPR และ dpv ในปัจจุบันการตอบสนองของขั้วไฟฟ้าในการปรากฏตัวของ 0.24 มม. SDS ภายใต้เครื่องมือพารามิเตอร์ที่ดีที่สุดและเงื่อนไขการทดลองยอดปัจจุบันเพิ่มขึ้นเป็นเส้นตรงกับความเข้มข้นของ BPR บนสองตั้งแต่ 4.00 นาโนเมตร 0.126 μ M ( R2 = 0.9985 ) และจากการμ 0.126 0.317 ( R2 = 0.9560 ) ขอบเขตการตรวจสอบ BPR คือคำนวณเป็น 1.33 nm ตาม S / N = 3 จำกัดการตรวจสอบต่ำและช่วงเชิงเส้นกว้างได้ในถุงในการแสดงตนของ SDS เมื่อเทียบกับรายงานอื่น ๆ
( ตารางที่ 2 )