2.3. Structural observations of BRS

2.3. Structural observations of BRS
2.3.1. Light microscopy and polarising microscopy
BRS samples were dissolved in glycerol (50% concentration) and
observed under a microscope (Vanox BHS-2, Olympus Corporation,
Japan) using both natural and polarised light.
2.3.2. Scanning electron microscopy (SEM)
Particles of BRS powder were scanned, using a S3700N scanning
electron microscope (Hitachi, Japan). Samples were fixed on an
objective table coated with platinum (10–20 nm thickness).
2.3.3. X-ray diffraction (XRD)
Cu Ka radiation was used to scan BRS samples over the 2h = 4–
60 range, with a step interval of 0.04, a scanning rate of 17.7 s per
step, a voltage of 40 kV, and a current of 40 mA. The D8 ADVANCE
X-ray diffractometer from Bruker Corporation (Germany) was used
for the XRD analyses.
2.3.4. Infrared spectroscopy
BRS samples were pressed in KBr. An infrared spectrometer
(VECTOR33, Bruker Corporation, Germany) was used to scan the
samples from 4000 cm1 to 400 cm1 of the infrared region.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.3. สังเกตโครงสร้างของ BRS2.3.1 การแสง microscopy และ polarising microscopyตัวอย่าง BRS ได้ละลายในกลีเซอร (ความเข้มข้น 50%) และสังเกตภายใต้กล้องจุลทรรศน์ (Vanox BHS-2 โอลิมปัส คอร์ปอเรชั่นญี่ปุ่นใช้ polarised แสง และธรรมชาติ2.3.2 การสแกน microscopy อิเล็กตรอน (SEM)อนุภาคของผง BRS ได้สแกน ใช้การสแกน S3700Nกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (ฮิตาชิ ญี่ปุ่น) ตัวอย่างที่คงตารางวัตถุประสงค์เคลือบ ด้วยแพลทินัม (ความหนา 10-20 nm)2.3.3 การเอ็กซ์เรย์การเลี้ยวเบน (XRD)ใช้ Cu Ka รังสีสแกนตัวอย่าง BRS ไป 2 h = 4 –ช่วง 60, 0.04 อัตราการสแกน 17.7 ช่วงขั้นตอนที่มี s ต่อขั้นตอน แรงดันไฟฟ้า 40 kV และปัจจุบัน 40 mA ล่วงหน้า D8ใช้ diffractometer เอกซเรย์จาก Bruker คอร์ปอเรชั่น (เยอรมนี)สำหรับวิเคราะห์ XRD2.3.4. อินฟราเรดกตัวอย่าง BRS ได้กด KBr สเปกโตรมิเตอร์เป็นอินฟราเรด(VECTOR33 บริษัท Bruker เยอรมนี) ถูกใช้ในการสแกนตัวอย่างจาก 4000 ซม. 1-400 ซม. 1 ภาคอินฟราเรด

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.3 สังเกตโครงสร้างของ BRS
2.3.1 กล้องจุลทรรศน์แสงและกล้องจุลทรรศน์ polarizing
ตัวอย่าง BRS ถูกกลืนหายไปในกลีเซอรอล (ความเข้มข้น 50%)
และสังเกตภายใต้กล้องจุลทรรศน์(Vanox BHS-2,
โอลิมปัคอร์ปอเรชั่นประเทศญี่ปุ่น) โดยใช้ทั้งแสงธรรมชาติและขั้ว.
2.3.2 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน (SEM)
อนุภาคของผง BRS ถูกสแกนโดยใช้การสแกน S3700N
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (ฮิตาชิญี่ปุ่น) ตัวอย่างได้รับการแก้ไขในตารางวัตถุประสงค์เคลือบด้วยทองคำขาว (10-20 นาโนเมตรหนา). 2.3.3 X-ray diffraction (XRD) Cu การังสีถูกใช้ในการสแกนตัวอย่าง BRS มากกว่า 2h เครื่องหมาย = 4 60? ช่วงที่มีช่วงขั้นตอนของ ?, 0.04 อัตราการสแกน 17.7 วินาทีต่อขั้นตอนที่แรงดันไฟฟ้า40 กิโลโวลต์ของและปัจจุบันของ 40 mA D8 ADVANCE มาตรการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์จาก Bruker คอร์ปอเรชั่น (เยอรมนี) ถูกนำมาใช้สำหรับการวิเคราะห์XRD. 2.3.4 อินฟราเรดตัวอย่าง BRS ถูกกดใน KBr สเปกโตรมิเตอร์อินฟราเรด(VECTOR33, Bruker คอร์ปอเรชั่นเยอรมนี) ถูกนำมาใช้ในการสแกนตัวอย่างจาก4,000 ซม.? 1-400 ซม 1 ของภูมิภาคอินฟาเรด

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.3 BRS observations的结构。2.3.1 .光显微镜和偏光显微镜。样品溶解在BRS是浓度）和甘油（50%。观察到在a和BHS-2（Vanox，奥林巴斯公司日本）和两polarised使用自然光。2.3.2扫描电子显微镜（SEM）。Particles粉末，使用的是一BRS scanned S3700N扫描扫描电子显微镜（日本）和日立，固定在一个样本都是。目的coated与铂（10 table）的厚度20 nm）。X射线衍射（XRD）2.3.3。铜是用扫描辐射BRS对KA的2H =样本在4——60 interval），与一个范围，一个步骤的扫描速率0.04 17.7 S /小时kV电压的步骤，一个40 current），和一个D8进展：40毫安。从X -射线diffractometer Bruker公司（德国）是用为analyses的XRD。2.3.4 .红外光谱BRS样本是在一个KBr红外spectrometer压。（VECTOR33 Bruker公司，德国），用的是一个扫描。从一个样品的cm1 4000 cm1 400红外区。