MicrostructureA scanning electron m

Microstructure
A scanning electron microscope (Model JSM-5310LV; JEOL Ltd.,
Tokyo, Japan) was used to examine the dried shiitake mushrooms’
microstructure. A 1 mm thick slice of the dried samples was prepared,
positioned on an SEM stub, then sputter-coated with gold
(JEOL JEC-1200 sputter coater). All samples were examined under
high vacuum conditions at an accelerating voltage of 20.0 kV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ต่อโครงสร้างจุลภาคกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนเป็นการสแกน (รุ่น JSM-5310LV JEOL จำกัดโตเกียว ญี่ปุ่น) ใช้ในการตรวจสอบของเห็ดหอมแห้งต่อโครงสร้างจุลภาค เป็นชิ้นหนา 1 มม.ตัวอย่างแห้งเตรียมไว้ตำแหน่งบนขั้วการ SEM แล้ว sputter เคลือบทอง(JEOL JEC 1200 sputter coater) ตัวอย่างทั้งหมดถูกตรวจสอบภายใต้สูงสูญญากาศสภาพที่มีแรงดันไฟฟ้าปัจจุบันของ 20.0 kV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

จุลภาคกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (รุ่น JSM-5310LV; JEOL จำกัด กรุงโตเกียวประเทศญี่ปุ่น) ถูกใช้ในการตรวจสอบเห็ดหอมแห้ง 'จุลภาค 1 มมชิ้นหนาของตัวอย่างแห้งเมื่อเตรียมการวางตำแหน่งบนต้นขั้วSEM แล้วพ่นเคลือบด้วยทองคำ(JEC JEOL-1200 Coater ปะทุ) ตัวอย่างทั้งหมดได้รับการตรวจสอบภายใต้สภาพสูญญากาศสูงที่แรงดันเร่ง 20.0 กิโลโวลต์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

โครงสร้างจุลภาคเป็นกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( แบบ jsm-5310lv ; จอลจำกัดโตเกียว , ญี่ปุ่น ) ถูกใช้ในการตรวจสอบเห็ดหอมแห้ง 'จุลภาค 1 มิลลิเมตร หนาแผ่นตัวอย่างแห้งได้เตรียมการตําแหน่งบน SEM สะดุด แล้วถ่มน้ำลายที่เคลือบด้วยทอง( จอล jec-1200 ละล่ำละลักเครื่องเคลือบ ) ตัวอย่างการตรวจสอบภายใต้เงื่อนไขสูญญากาศสูงที่เร่งอุณหภูมิ 20.0 KV .