Figure 14. (a) Cross-sectional SEM

Figure 14. (a) Cross-sectional SEM image of inorganic–organic halide perovskite planar heterojunction flexible solar cell and schematic of flexible
device structure. Scale bar: 200 nm and I–V characteristics measured under the simulated solar light (100 mW/cm 2 AM 1.5G) and (b) normalized
PCE of flexible perovskite devices as a function of bending cycles with different radii of 400, 10, and 4 mm. Inset show the real images taken during
the bending tests.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รูปที่ 14 (ก) หน้าตัดภาพ SEM โฟนินทรีย์อินทรีย์ – perovskite ระนาบ heterojunction เซลล์แสงอาทิตย์มีความยืดหยุ่นและ schematic ที่ยืดหยุ่นโครงสร้างอุปกรณ์ แถบมาตราส่วน: 200 nm และ – V ลักษณะวัดภายใต้แสงอาทิตย์จำลอง (100 mW/cm 2 AM 1.5G) และ (ข) ตามปกติPCE อุปกรณ์ยืดหยุ่น perovskite ที่เป็นฟังก์ชันของการดัดรอบ ด้วยรัศมีต่าง ๆ 400, 10 และ 4 mm. แทรกภาพแสดงภาพจริงที่ถ่ายระหว่างการทดสอบดัดโค้ง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูปที่ 14 (ก) ตัดภาพ SEM ของลิดนินทรีย์อินทรีย์ perovskite ระนาบเฮเทอโรเซลล์แสงอาทิตย์ที่มีความยืดหยุ่นและมีความยืดหยุ่นแผนผังของ
โครงสร้างอุปกรณ์ บาร์มาตราส่วน: 200 นาโนเมตรและ I-V ลักษณะวัดภายใต้แสงอาทิตย์จำลอง (100 mW / cm 02:00 1.5G) และ (ข) ปกติ
PCE ของอุปกรณ์ perovskite มีความยืดหยุ่นเป็นหน้าที่ของดัดรอบที่มีรัศมีแตกต่างกันของ 400, 10 และ 4 มม ภาพประกอบแสดงภาพที่แท้จริงถ่ายในระหว่าง
การทดสอบการดัด

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปที่ 14 ( ก ) ข้ามภาพตัดของอนินทรีย์และอินทรีย์เฮไลด์แบบเพอรอฟสไกด์ระนาบยืดหยุ่น heterojunction เซลล์แสงอาทิตย์และวงจรแบบยืดหยุ่นลูกเบี้ยวโครงสร้างอุปกรณ์ แถบสเกล 200 nm และฉัน– V ลักษณะวัดภายใต้แสงอาทิตย์จำลอง ( 100 MW / ซม 2 เป็น 1.5G ) และ ( ข ) มาตรฐานพีซีอุปกรณ์ perovskite ที่ยืดหยุ่นเป็นฟังก์ชันของการดัดรอบด้วยรัศมีที่แตกต่างกันของ 400 , 10 , และ 4 มิลลิเมตร ใส่แสดงจริงภาพที่ถ่ายในระหว่างการทดสอบการดัดโค้ง .