Thin films of the F7T-15 K and the

Thin films of the F7T-15 K and the F13e15 K blends give relatively smooth AFM surfaces with calculated root mean square
roughness (RMSR) of 0.53 and 0.60 nm respectively (Fig. 4).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ฟิล์มบางของ K F7T 15 และผสม F13e15 K ให้ AFM พื้นผิวที่ค่อนข้างเรียบ ด้วยค่าเฉลี่ยคำนวณรากกำลังสองความหยาบ (RMSR) ของ nm 0.53 และ 0.60 ตามลำดับ (Fig. 4)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ฟิล์มบางของ F7T-15 K และ K F13e15 ผสมผสานให้พื้นผิวค่อนข้างเรียบ AFM
กับรากคำนวณตารางหมายถึงความหยาบกร้าน(RMSR) 0.53 และ 0.60 นาโนเมตรตามลำดับ (รูปที่. 4)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ฟิล์มบางของ f7t-15 K และ K ผสมให้ f13e15 ค่อนข้างเรียบพื้นผิวด้วย AFM ค่า Root Mean Square
ความหยาบ ( rmsr ) 0.53 และ 0.60 nm ตามลำดับ ( ภาพที่ 4 )