Fig. 1. An in-lens SEM image of 6H–

Fig. 1. An in-lens SEM image of 6H–SiC bombarded with 360 keV Ag+ ions at room
temperature to a fluence of 2 1016 cm2
. The implanted sample was vacuum
annealed at 900 C for 10 h and again for 20 h at 1200 C. The sample was cut into
two parts and glued together to form a sandwich. The image is a cross-section of the
sandwiched sample. The middle black band is the glue that held the two samples
together.
J.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

มะเดื่อ 1. ในเลนส์ภาพ SEM ของ 6H-SiC ถล่มด้วย 360 เคฟ Ag + ไอออนที่ห้อง
อุณหภูมิ fluence 2 1016
cm2 กลุ่มตัวอย่างที่ได้รับการปลูกฝังสูญญากาศ
อบที่ 900 องศาเซลเซียสเป็นเวลา 10 ชั่วโมงและอีกครั้งเป็นเวลา 20 ชั่วโมงที่ 1,200 องศาเซลเซียสตัวอย่างที่ถูกตัดออกเป็น
สองส่วนและติดกาวกันในรูปแบบแซนวิช ภาพจะข้ามส่วนของ
ตัวอย่างแซนวิช แถบสีดำตรงกลางเป็นกาวที่จัดขึ้นสองตัวอย่าง
ด้วยกัน.
เจ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปที่ 1 ในรูปของเลนส์ SEM 6H – SIC bombarded กับ 360 เคฟ AG ไอออนที่อุณหภูมิห้อง
ไป fluence 2 เรื่อง CM2

ตัวอย่างฝังสูญญากาศ
อบ 900 C 10 H และอีก 20 ชั่วโมงที่อุณหภูมิ 1200 C ตัวอย่างที่ถูกตัดเป็นสองส่วนติดกัน
แบบแซนด์วิช ภาพตัดขวางของ
กระหนาบตัวอย่าง วงดำตรงกลางเป็นกาวที่ถือสองตัวอย่าง
ด้วยกัน
J