The reduced 2θ resolution in the XR

The reduced 2θ resolution in the XRD data, which is the consequence of the lower energy resolution of the DMM relative to that of a double crystal monochromator (DCM), proved to be sufficient for the measurements performed in this study. After the energy selection, the 30-keV beam was focused on the paint multilayer fragment by means of an elliptical single-bounce capillary to a spot size of 15μm. A MarCCD area detector (2 k × 2 k, 80 μm pixel size) was positioned behind the sample, acquiring two-dimensional diffraction patterns. Additionally, a silicon drift detector, positioned at 90◦ with respect to the incoming beam, allowed the simultaneous registration of fluorescence spectra, thereby combining XRF tomography (element distributions in a virtual cross section) and XRD tomography (crystallographic phase distributions). Figure 2 summarizes the combined μ-XRF/XRD tomography setup as well as the pattern decomposition method explained earlier.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ความละเอียด 2θ ลดข้อมูล XRD ซึ่งเป็นผลมาจากการแก้ปัญหาพลังงานต่ำของ DMM สัมพันธ์ของ monochromator คริสตัลคู่ (DCM), พิสูจน์ให้เพียงพอสำหรับการประเมินที่ดำเนินการในการศึกษานี้ หลังจากเลือกพลังงาน แสง 30 keV ที่เน้นส่วนหลายชั้นสี โดยมีแรงเดียวเด้งรีขนาดจุดของ 15μm ตรวจการตั้ง MarCCD (2 k k × 2, 80 μm ขนาดพิกเซล) ที่วางอยู่เบื้องหลังตัวอย่าง ได้รับรูปแบบการเลี้ยวเบนแบบสองมิติ นอกจากนี้ เครื่องตรวจจับดริฟท์ซิลิคอน ตำแหน่งที่ 90◦ กับคานขาเข้า อนุญาตให้ลงทะเบียนพร้อมแรมสเป็คตรา fluorescence รวม XRF คอมพิวเตอร์ (องค์ประกอบการกระจายในส่วนข้ามเสมือน) และ XRD คอมพิวเตอร์ (crystallographic ระยะกระจาย) รูปที่ 2 สรุปการตั้งค่าคอมพิวเตอร์μ-XRF/XRD รวมเป็นวิธีแยกส่วนประกอบรูปแบบที่อธิบายไว้ก่อนหน้านี้

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ความละเอียดลดลง2θในข้อมูล XRD ซึ่งเป็นผลมาจากความละเอียดของการใช้พลังงานที่ลดลงของญาติ DMM กับที่ monochromator คริสตัลคู่ (DCM) พิสูจน์ให้เห็นว่าจะเพียงพอสำหรับการตรวจวัดการดำเนินการในการศึกษาครั้งนี้ หลังจากที่เลือกพลังงานลำแสง 30 เคฟได้รับการมุ่งเน้นไปที่ส่วนหลายสีโดยวิธีการของเส้นเลือดฝอยเดียวตีกลับเป็นรูปวงรีขนาดจุด15μm เครื่องตรวจจับพื้นที่ MarCCD (2 × 2 k k, 80 ไมครอนขนาด pixel) อยู่ในตำแหน่งที่อยู่เบื้องหลังตัวอย่างการแสวงหารูปแบบการเลี้ยวเบนสองมิติ นอกจากนี้เครื่องตรวจจับลอยซิลิกอนในตำแหน่งที่90◦ที่เกี่ยวกับคานที่เข้ามาได้รับอนุญาตให้ลงทะเบียนพร้อมกันของสเปกตรัมเรืองแสงจึงรวมเอกซ์เรย์ XRF (แจกแจงองค์ประกอบในส่วนข้ามเสมือน) และการตรวจเอกซเรย์ XRD (แจกแจงขั้นตอน crystallographic) รูปที่ 2 สรุปรวมμ-XRF / XRD ติดตั้งเอกซ์เรย์เช่นเดียวกับวิธีการสลายตัวรูปแบบการอธิบายก่อนหน้านี้

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2 θลดความละเอียดในข้อมูลวิเคราะห์ ซึ่งผลของพลังงานลดลง ความละเอียดของตัวเลขที่สัมพันธ์กับที่ของโมโนโครเมเตอร์คริสตัลคู่ ( DCM ) พิสูจน์ให้เพียงพอสำหรับการวัดแสดงในการศึกษานี้ หลังจากการพลังงาน30 keV คานถูกเน้นสีหลายส่วนโดยวิธีการของหลอดเลือดฝอยเด้งเดียวแบบเป็นจุดμขนาด 15 เมตร พื้นที่ marccd ตรวจจับ ( 2 × 2 K K , 80 μ M ขนาดพิกเซล ) เป็นตำแหน่งหลังตัวอย่าง รับสองมิติโดยรูปแบบ นอกจากนี้ ซิลิคอนลอยตรวจจับ , ตําแหน่งที่ 90 ◦เกี่ยวกับคานเข้ามาอนุญาตการลงทะเบียนพร้อมกันของการเปลี่ยนแปลงจึงรวม XRF โทโมกราฟี ( องค์ประกอบการกระจายในส่วนข้ามเสมือน ) และตรวจเอกซเรย์คอมพิวเตอร์ ( การกระจายระยะทาง ) รูปที่ 2 สรุปรวมμ - XRF / ตรวจเอกซเรย์คอมพิวเตอร์ รวมทั้งรูปแบบการติดตั้ง วิธีการอธิบายก่อนหน้านี้