AFM works by scanning a very sharp

AFM works by scanning a very sharp (end radius ca. 10 nm) probe along the sample surface, carefully maintaining the force between the probe and surface at a set, low level

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ด้านการทำงาน โดยการสแกนคมชัดมาก (ปลายรัศมี ca. 10 nm) รบตามพื้นผิวตัวอย่าง ระมัดระวังรักษาแรงระหว่างสอบสวนและพื้นผิวที่ชุด ระดับต่ำ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

AFM ทำงานโดยการสแกนคมมาก (ปลายรัศมีแคลิฟอร์เนีย 10 นาโนเมตร) สอบสวนไปตามพื้นผิวตัวอย่างระมัดระวังการรักษาแรงระหว่างการสอบสวนและพื้นผิวที่ชุดในระดับต่ำ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

AFM ทำงานโดยการสแกนได้คมมาก ( ปลายรัศมีประมาณ 10 nm ) สอบสวนไปตามพื้นผิวตัวอย่างระมัดระวังรักษาแรงระหว่างการสอบสวนและพื้นผิวที่กำหนดใน ระดับต่ำ