The morphology observations of the

The morphology observations of the membranes were carried out on a FEI Tecnai G20 transmission electron microscope (TEM) and a HITACHI S-4700 scanning electron microscope (SEM). X-ray diffraction (XRD) patterns were recorded on an X’Pert PRO SUPER rA rotation anode X-ray diffractometer with Ni-filtered Cu-Ka radiation (l¼1.5418 ˚A). Raman spectra were recorded on a confocal Raman system (Horiba Jobin Yvon HR800, France) with an excitation of 632.8 nm laser light. UV–vis absorption spectra

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การสังเกตลักษณะทางสัณฐานวิทยาของเยื่อที่ได้รับการดำเนินการในเฟ tecnai กล้องจุลทรรศน์ g20 ส่งอิเล็กตรอน (TEM) และกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน hitachi s-4700 (SEM) x-ray รูปแบบ (XRD) เลน​​ส์ที่ถูกบันทึกไว้เมื่อ x'pert โปรหมุนซุปเปอร์ขั้วบวก RA diffractometer x-ray กับพรรณีกรองรังสี CU-ka (l ¼ 1.5418 ˚)สเปกตรัมรามันถูกบันทึกไว้ในระบบรามัน confocal (Horiba Jobin Yvon hr800, ฝรั่งเศส) กับการกระตุ้นจาก 632.8 นาโนเมตรแสงเลเซอร์ สเปกตรัมการดูดกลืน UV-Vis

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สังเกตสัณฐานวิทยาของเยื่อหุ้มจะถูกดำเนินในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนส่งหุย Tecnai G20 (ยการ) และกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการสแกนฮิตาชิ S-4700 (SEM) รูปแบบการเลี้ยวเบนการเอ็กซ์เรย์ (XRD) ถูกบันทึกไว้ในตัว X'Pert PRO SUPER rA หมุนแอโนดเอกซเรย์ diffractometer กับรังสี Ni filtered Cu-Ka (l¼1.5418 ˚A) แรมสเป็คตรารามันได้รับการบันทึกบนระบบรามัน confocal (Horiba Jobin Yvon HR800 ฝรั่งเศส) กับการในการกระตุ้น 632.8 nm เลเซอร์แสง UV–vis ดูดซึมแรมสเป็คตรา

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การสังเกตรูปร่างลักษณะของหินที่มีความเป็นไปได้ที่ FEI tecnai G 20 การส่งอิเลคตรอนกล้องจุลทรรศน์(เปิดระบบ)และบริษัทฮิตาชิ S -4700 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการสแกน(ความหมายอย่างไรต่อ) X - ray พร่าเลือนของ( xrd )เป็นรูปแบบที่บันทึกใน diffractometer x 'กล้า Pro Super กงหราการหมุนขั้วทางบวก X - ray พร้อมด้วยรังสี Ni - filtered cu-ka ( L เพล 1.5418 ˚a )Spectra รามันมีการบันทึกในระบบรามัน confocal ( horiba jobin yvon HR 800 ฝรั่งเศส)พร้อมด้วยไดนาโม)ด้วยไฟฟ้าของ 632.8 แสงเลเซอร์ nm UV - VIS ดูดซับ Spectra