Scanning electron microscopy (SEM)

Scanning electron microscopy (SEM) was applied to investigate
the surface morphology after degradation of silicone rubbers in
different solutions. Fig 7 displays the SEM images of silicone rubbers
with different hardness before and after exposure to simulated
solution for 30 days. All initial samples have rather smooth surface
and no voids or cracks were observed. After degradation in simulated
solutions, voids appeared on surfaces of all the tested samples.
Furthermore, both the size and number of voids increased
with the decrease in hardness, indicating that stability of silicone
rubbers increased with the increase in hardness. This agrees with
the above discussed variation of elastic modulus for silicone rubbers
exposed to simulated solutions.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สแกน microscopy อิเล็กตรอน (SEM) ถูกใช้เพื่อตรวจสอบสัณฐานวิทยาผิวหลังของซิลิโคนยางในการแก้ไขปัญหาต่าง ๆ ฟิก 7 แสดงภาพ SEM ของยางซิลิโคนมีความแข็งแตกต่างก่อน และ หลังสัมผัสกับจำลองโซลูชั่นสำหรับ 30 วัน ตัวอย่างทั้งหมดที่เริ่มต้นได้ค่อนข้างเรียบผิวและสังเกต voids หรือรอยแตกไม่ หลังจากการย่อยสลายในระบบจำลองโซลูชั่น voids ปรากฏบนพื้นผิวของตัวอย่างทดสอบทั้งหมดนอกจากนี้ การเพิ่มขึ้นของขนาดและจำนวน voidsกับการลดลงความแข็ง บ่งชี้ว่า ความมั่นคงของซิลิโคนยางเพิ่มกับเพิ่มความแข็ง นี้ตกลงกับข้างต้นกล่าวถึงรูปแบบของโมดูลัสยืดหยุ่นสำหรับยางซิลิโคนสัมผัสกับโซลูชั่นจำลอง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) ถูกนำมาใช้ในการตรวจสอบ
ลักษณะพื้นผิวหลังจากการเสื่อมสภาพของยางซิลิโคนใน
การแก้ปัญหาที่แตกต่างกัน รูปที่ 7 แสดงภาพ SEM ของยางซิลิโคน
ที่มีความแข็งที่แตกต่างกันทั้งก่อนและหลังการสัมผัสกับจำลอง
วิธีการแก้ปัญหาเป็นเวลา 30 วัน ตัวอย่างทั้งหมดเริ่มต้นมีพื้นผิวค่อนข้างเรียบ
และช่องว่างหรือรอยแตกไม่ถูกตั้งข้อสังเกต หลังจากการย่อยสลายในการจำลอง
การแก้ปัญหาช่องว่างที่ปรากฏบนพื้นผิวของตัวอย่างทดสอบ.
นอกจากนี้ทั้งขนาดและจำนวนของช่องว่างที่เพิ่มขึ้น
กับการลดลงของความแข็งแสดงให้เห็นว่าเสถียรภาพของซิลิโคน
ยางที่เพิ่มขึ้นกับการเพิ่มความแข็ง นี้เห็นด้วยกับ
การเปลี่ยนแปลงที่กล่าวข้างต้นของโมดูลัสยืดหยุ่นสำหรับยางซิลิโคน
สัมผัสกับการแก้ปัญหาการจำลอง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) มีวัตถุประสงค์เพื่อศึกษาลักษณะพื้นผิวหลังจากการสลาย

ยางซิลิโคนในโซลูชั่นที่แตกต่างกัน รูปที่ 7 แสดงภาพ SEM ของซิลิโคนยาง
กับความแข็งที่แตกต่างกันก่อนและหลังสัมผัสจำลอง
โซลูชั่นสำหรับ 30 วัน ตัวอย่างแรกทั้งหมดมีพื้นผิวเรียบ
และไม่มีช่องว่างหรือรอยแตกลดลง หลังจากการย่อยสลายใน
จำลองโซลูชั่น ช่องว่างที่ปรากฏบนพื้นผิวของทุกการทดสอบตัวอย่าง
นอกจากนี้ ทั้งขนาด และจำนวนช่องว่างเพิ่มขึ้น
ด้วยการลดลงของความแข็ง ระบุว่า เสถียรภาพของซิลิโคน
ยางเพิ่มขึ้น ด้วยการเพิ่มความแข็ง เห็นด้วยกับข้างบนนี้
กล่าวถึงความผันแปรของค่าโมดูลัสยืดหยุ่นสำหรับซิลิโคนยาง
สัมผัสกับโซลูชั่นที่จำลอง