Near-surface composition depth prof

Near-surface composition depth profiling of ion-implanted epoxy systems was studied using Rutherford Backscattering Spectroscopy (RBS).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

องค์ประกอบพื้นผิวใกล้ลึกสร้างโพรไฟล์ของระบบอีพ็อกซี่ implanted ไอออนถูกศึกษาใช้รูเทอร์ฟอร์ด Backscattering ก (RBS)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

องค์ประกอบใกล้พื้นผิวโปรไฟล์ความลึกของระบบอีพ็อกซี่ไอออนปลูกฝังการศึกษาโดยใช้สเปก backscattering รัทเธอร์ (RBS)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ใกล้พื้นผิวองค์ประกอบของไอออนปลูกฝังลึกผู้ศึกษาใช้ระบบอีพ็อกซี่ รัทเธอร์ฟอร์ด backscattering spectroscopy ( RBS )