Measurements were performed manuall

Measurements were performed manually using ImageJ on at least
90 objects.
Morphological observations of the HDs and SDs were performed
by Atomic Force Microscopy (AFM) Nanoscope 5 (VEECO). Thin
polymer films of each PU were deposed on a glass plate and dried
for one night prior to imaging. Tapping mode phase images of
sample surfaces were made using NanoProbe tips PPP-NCL
(Nanosensor) for PU88 with a frequency of 153.2 kHz PU75 and
PU60 were analyzed with a NanoProbe tip SSS-NCH (Nanosensor)
at a frequency of 272 kHz.
Small Angle X-ray Scattering (SAXS) was used to investigate the
HD distribution. For that purpose, stacks composed of several layers
of films were analyzed in transmission mode in two different directions,
see Fig. 2. Patterns were acquired using a RU-300 generator
equipped with a copper anode (lCuKa ¼ 1.54 Å). The 1e2 mm
thick stack was placed at a distance of 60 cm from the 2D CCD
detector.
The field-induced thickness strain Sexp was measured on circulars
sample (25 mm of diameter) with a homemade setup based
on a double-beam laser interferometer measurement (Agilent
10889B) [15e17]. Samples were placed between two cylindrical
brass masses acting as conductive electrodes. A mirror was placed
on the upper electrode to reflect the laser beam. A bipolar electric
field was supplied by a high voltage amplifier (Trek10/10B) driven
with a function generator (Agilent 33250A). Measurements were
made at room temperature.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ดำเนินการประเมินด้วยตนเองโดยใช้ ImageJ ในน้อยวัตถุ 90ข้อสังเกตของการฉีดน้ำ HDs และองค์กรดำเนินโดยแรงอะตอม (AFM) Microscopy Nanoscope 5 (VEECO) บางฟิล์มพอลิเมอร์ของ PU แต่ละแจฮยอนจากตระกูลบนจานแก้ว และแห้งคืนหนึ่งก่อนภาพ เคาะโหมดระยะภาพทำพื้นผิวตัวอย่างโดยใช้เคล็ดลับ NanoProbe PPP NCL(นาโนเซนเซอร์) ใน PU88 กับ 153.2 kHz ความถี่ PU75 และPU60 ถูกวิเคราะห์ ด้วยเคล็ดลับ NanoProbe SSS-NCH (นาโนเซนเซอร์)ความถี่ 272 kHzขนาดเล็กมุมเอกซเรย์ Scattering (SAXS) ถูกใช้เพื่อตรวจสอบการHD การกระจายงาน สำหรับวัตถุประสงค์นั้น กองประกอบด้วยหลายชั้นภาพยนตร์ถูกวิเคราะห์ในโหมดส่งข้อมูลสองทิศทางแตกต่างกันดู Fig. 2 รูปแบบที่ได้รับมาใช้เป็นเครื่องกำเนิดไฟฟ้า RU 300พร้อมขั้วทองแดง (lCu Ka ¼ 1.54 Å) มม. 1e2กองหนาที่วางในระยะทาง 60 ซม.จาก 2D CCDเครื่องตรวจจับต้องใช้ความหนาที่ทำให้เกิดฟิลด์ Sexp ถูกวัดในบังคับคำตัวอย่าง (ของเส้นผ่าศูนย์กลาง 25 มม.) ด้วยการตั้งค่าโฮมเมดอยู่ในการประเมิน interferometer เลเซอร์ลำแสงคู่ (Agilent10889B) [15e17] ตัวอย่างที่อยู่ระหว่างสองทรงกระบอกฝูงทองเหลืองที่ทำหน้าที่เป็นไฟฟ้าหุงต กระจกวางไว้บนอิเล็กโทรดบนเพื่อสะท้อนแสงเลเซอร์ ไฟฟ้าไฟที่ไบโพลาร์ฟิลด์ถูกกำหนดตามการขยายแรงดันสูง (Trek10/10 ข) ขับเคลื่อนมีกำเนิดแบบฟังก์ชัน (Agilent 33250A) วัดได้ได้ที่อุณหภูมิห้อง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

วัดได้ดำเนินการด้วยตนเองโดยใช้ ImageJ อย่างน้อย
90 วัตถุ.
สังเกตทางสัณฐานวิทยาของ HDs และ SDs ได้ดำเนินการ
โดยกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) Nanoscope 5 (VEECO) บาง
ภาพยนตร์ลิเมอร์ของแต่ละ PU ถูกปลดบนแผ่นกระจกและแห้ง
สำหรับหนึ่งคืนก่อนที่จะมีการถ่ายภาพ ภาพเฟสโหมดแตะของ
พื้นผิวตัวอย่างที่ถูกสร้างขึ้นโดยใช้เคล็ดลับ NanoProbe PPP-NCL
(nanosensor) สำหรับ PU88 กับความถี่ของ 153.2 เฮิร์ทซ์และ PU75
PU60 วิเคราะห์ด้วยปลาย NanoProbe SSS-NCH (nanosensor)
ที่ความถี่ 272 เฮิร์ทซ์.
ขนาดเล็กมุม กระเจิงรังสีเอกซ์ (SAXS) ถูกนำมาใช้ในการตรวจสอบ
การกระจาย HD เพื่อที่กองประกอบด้วยหลายชั้น
ของภาพยนตร์ถูกนำมาวิเคราะห์ในโหมดการส่งผ่านในสองทิศทางที่แตกต่างกัน
ดูรูป 2. รูปแบบที่ได้มาโดยใช้เครื่องกำเนิดไฟฟ้า RU-300
พร้อมกับทองแดงขั้วบวก (LCU? กา¼ 1.54 Å) 1E2 มม
สแต็คหนาถูกวางไว้ที่ระยะ 60 ซม. จากที่ CCD 2D
ตรวจจับ.
ความหนาของสนามที่เกิดความเครียด Sexp วัดในหนังสือเวียน
ตัวอย่าง (25 มิลลิเมตรเส้นผ่าศูนย์กลาง) ที่มีการติดตั้งโฮมเมดที่ใช้
ในสองครั้งที่ลำแสงเลเซอร์วัดสัน (Agilent
10889B) [15e17] ตัวอย่างถูกวางไว้ระหว่างสองกระบอก
ทองเหลืองฝูงทำหน้าที่เป็นสื่อกระแสไฟฟ้าอิเล็กโทรด กระจกที่วางอยู่
บนขั้วไฟฟ้าบนเพื่อสะท้อนแสงเลเซอร์ ไฟฟ้าสองขั้ว
สนามถูกจัดทำโดยเครื่องขยายเสียงแรงดันสูง (Trek10 / 10B) ที่ขับเคลื่อนด้วย
ฟังก์ชั่นกับเครื่องกำเนิดไฟฟ้า (Agilent 33250A) วัดถูก
ทำที่อุณหภูมิห้อง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

วัดได้ด้วยตนเองโดยใช้ ImageJ อย่างน้อย 90

สังเกตวัตถุ และสัณฐานวิทยาของ HDS SDS ได้
ด้วยกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ( AFM ) นาโนสโคป 5 ( VEECO ) บางปูเป็นพอลิเมอร์ฟิล์มแต่ละ
อดีตบนจานแก้วและแห้ง
หนึ่งคืนก่อนที่จะถ่ายภาพ โหมดเคาะเฟสภาพ
พื้นผิวจำนวนการใช้เคล็ดลับ ppp-ncl
นาโนโพรบ( นาโนเซนเซอร์ ) สำหรับ pu88 กับความถี่ของการ 153.2 kHz และ pu75
pu60 วิเคราะห์ด้วยนาโนโพรบปลาย sss-nch ( นาโนเซนเซอร์ )
ที่ความถี่ของ 272 kHz .
มุมเล็ก x - เรย์กระจัดกระจาย ( saxs ) คือใช้ตรวจสอบ
HD แจกจ่าย สำหรับวัตถุประสงค์ที่กองประกอบด้วยหลายชั้น
ฟิล์มวิเคราะห์ในโหมดการส่งสองเส้นทางที่แตกต่างกัน
เห็นรูปที่ 2รูปแบบได้มาใช้ ru-300 เครื่องกำเนิดไฟฟ้า
พร้อมกับทองแดงแอโนด ( lcu  ค่ะ¼ 154 • ) การ 1e2 mm
กองอยู่ที่ระยะทางหนา 60 เซนติเมตร จาก 2D CCD

ด้านความหนาเครื่องตรวจจับ และเมื่อย sexp วัดในหนังสือเวียน
ตัวอย่าง ( 25 มม. เส้นผ่าศูนย์กลาง ) ด้วยการติดตั้งแบบโฮมเมดจาก
บนอินเตอร์เฟอโรมิเตอร์เลเซอร์บีมคู่วัด ( Agilent
10889b ) [ 15e17 ]ตัวอย่างถูกวางไว้ระหว่างสองกระบอกทองเหลือง ในฐานะสื่อมวลชน
ขั้วไฟฟ้า กระจกที่ถูกวางไว้บนขั้วไฟฟ้าบน
สะท้อนเลเซอร์บีม สองขั้วไฟฟ้า
สนามถูกจัดโดยแอมป์ แรงดันสูง ( trek10 / 10b ) ขับเคลื่อน
ด้วยฟังก์ชั่นเครื่องกำเนิดไฟฟ้า ( Agilent 33250a ) การวัดกำลัง
ทำที่อุณหภูมิห้อง