Scanning electron micrographs (SEM)

Scanning electron micrographs (SEM) provided evidence of the mechanical effects on cell walls, mainly evidenced by cell destruction produced by Soxhlet, MAE, and UAE on the bark.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การสแกน micrographs อิเล็กตรอน (SEM) มีหลักฐานของผลกระทบทางกลบนผนังเซลล์ ส่วนใหญ่เป็นหลักฐาน โดยการทำลายเซลล์ที่ผลิต โดย Soxhlet แม่ และสหรัฐอาหรับเอมิเรตส์เปลือก

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกน (SEM) ให้หลักฐานของผลกระทบทางกลที่ผนังเซลล์หลักฐานส่วนใหญ่โดยการทำลายเซลล์ที่ผลิตโดยวิธีการสกัดแบบ, แม่, และยูเออีในเปลือก

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกน ( SEM ) ให้หลักฐานของผลกระทบเชิงกลในผนังเซลล์ส่วนใหญ่เป็น evidenced โดยทำลายเซลล์ที่ผลิตโดย 1 , แม่ , และยูเออีในการเห่า