To further evaluate thecrystallinit

To further evaluate the
crystallinity and thickness, the graphenefilm was transferred from
the SiGe substrate onto TEM grids

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การประเมินต่อไป นี้crystallinity และหนา graphenefilm มีการโอนย้ายจากพื้นผิว SiGe บนกริดยการ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เพื่อประเมิน
ความเป็นผลึกและความหนา graphenefilm ถูกย้ายจาก
พื้นผิว SiGe บนกริด TEM

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เพื่อเพิ่มเติมประเมิน
ผลึก และความหนา ที่ย้ายมาจาก graphenefilm
SiGe พื้นผิวบนกริดเต็มๆ