Scanning electron microscopy (SEM)

Scanning electron microscopy (SEM) of the film samples was performed using a Hitachi 570 SEM (FESEM Hitachi S4160, Japan) in the School of Metallurgy and Materials Engineering University of Tehran,

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สแกน (SEM) microscopy อิเล็กตรอนอย่างฟิล์มทำใช้กับฮิตาชิ 570 SEM (S4160 FESEM ฮิตาชิ ญี่ปุ่น) โรงเรียนโลหะวิทยาและวัสดุวิศวกรรมมหาวิทยาลัยของเตหราน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน (SEM) ของภาพยนตร์ตัวอย่างได้รับการดำเนินการโดยใช้ฮิตาชิ 570 SEM (FESEM ฮิตาชิ S4160, ญี่ปุ่น) ในโรงเรียนของโลหะและวัสดุวิศวกรรมมหาวิทยาลัยเตหะราน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ของภาพยนตร์ตัวอย่างการใช้ Hitachi 570 SEM ( fesem Hitachi s4160 , ญี่ปุ่น ) ในโรงเรียนของโลหะและวัสดุ คณะวิศวกรรมศาสตร์ มหาวิทยาลัยเตหะราน