The precipitates were therefore cha

The precipitates were therefore characterized as primary grain boundary or interior grain γ′ based on their location. Unfortunately, the etched SE images that provide clear details of the primary γ′, do not provide suitable contrast to highlight the grain boundaries. To overcome this issue, EBSD techniques were used on the lightly etched samples to determine the area fraction and size of primary γ′ at grain boundaries (from a large sample area). Because the primary γ′ was lightly etched, the precipitates produced very poor diffraction data. When the inverse pole map was combined with the image quality map and SE image, primary γ′ were differentiated from the γ grains by orientation color, size and morphology differences evident in the EBSD data. Data was collected on an FEI XL30 SEM operating at 20 kV, using a high speed Bruker camera, with a step size of 50 nm. Higher resolution, etched SE images (taken on an FEI Quanta SEM operating at 5 kV at magnifications of approximately 20,000 for secondary, and 6000 for primary) were used to determine the total primary γ′ area fraction. Photoshop image analysis software was used to analyze the SEM images. The interior primary γ′ value was determined by subtracting the grain boundary measured value (EBSD data) from the total (SE data). The resulting interior grain primary γ′ number density was combined with the measured secondary γ′ number density to provide the average secondary γ′ area fraction andprecipitate size used in the yield model.

Thin transmission electron microscope (TEM) foils and tapered atom probe tomography (APT) needles were produced at 6 mm, 50 mm, and 1 mm distances from the weld interface for use in APT and TEM analysis. The foils were milled from the sample using an FEI Nova 200 NanoLab Dual Beam (focused ion beam) FIB equipped with a Gaþ ion source and Pt gas injection system. TEM images were produced using a FEI Tecnai operating at 200 kV in both bright field and dark field modes and analyzed using Image J software [28]. Image J is a public domain Java based image analysis program that provides a processing framework for plugins and macros. Specific scripts were used to segment and measure γ′ in 10 dark field images from each of the TEM foil positions. APT samples were attached to silicon micro-tips and shaped to provide the required geometry. They were analyzed using a Cameca 3000X HR local electrode atom probe (LEAP) in LASER mode with an evaporation rate of 0.5–0.7%. The evaporation was done at a temperature of 40 K with a power of 0.3 nJ. 3D sample reconstructions and chemical compositions within the matrix and γ′ precipitates were developed using IVASs probe micro analysis (EPMA) measurements were obtained using a Cameca microprobe with line scans across the material, perpendicular to the weld interface. The total length of each line scan was 12 mm, covering 6 mm on either side of the weld line.The spacing between the measured points along the lines was 1 mm between 0 and 200 mm from the IFW interface on the Mar-M247 side and 0–350 mm from the IFW interface on the LSHR side.

Beyond these segments, the spacing between the measured points was 100 mm. Hardness measurements were obtained with a Shimadzu Dynamic Ultra-micro Hardness Tester (model DUH-211s) using a 98 mN load and 10 s hold time. At least 10 hardness measurements in the “y” direction were conducted at each “x” distance from the weld interface and averaged to provide the final value. Each of the measurements in the “y” direction were separated by at least 100 mm.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การตกตะกอนดังนั้นจึงมีลักษณะเป็นขอบลายหลักหรือลายภายในγ′อิงตามตำแหน่ง อับ ภาพ SE ผ่านการเอทชิ่งที่ให้รายละเอียดชัดเจนของγ′หลัก ให้ความเปรียบต่างที่เหมาะสมเพื่อเน้นขอบเขตเกรน เพื่อเอาชนะปัญหานี้ เทคนิค EBSD ถูกใช้บนตัวอย่างที่ผ่านการเอทชิ่งเบา ๆ เพื่อกำหนดสัดส่วนพื้นที่และขนาดของγ′หลักขอบเขตของเกรน (จากพื้นที่ขนาดใหญ่ตัวอย่าง) เนื่องจากγ′หลักถูกสลักเบา ๆ การตกตะกอนผลิตข้อมูลการกระจายแสงดี เมื่อแผนที่เสาผกผันถูกรวมกับแผนที่คุณภาพภาพและภาพ SE γ′หลักแตกต่างจากธัญพืชγแนวสี ขนาด และสัณฐานวิทยาความแตกต่างในข้อมูล EBSD รวบรวมข้อมูลในการ SEM XL30 เฟยใน 20 kV ใช้ Bruker กล้องความเร็วสูง ขั้นตอนขนาด 50 nm ความละเอียดสูง แกะสลักภาพ SE (ถ่ายใน SEM Quanta เฟยเป็นปฏิบัติการที่ 5 kV ที่ระดับกำลังขยายประมาณ 20,000 สำหรับรอง และ 6000 สำหรับหลัก) ใช้ในการกำหนดสัดส่วนพื้นที่ของหลักγ′รวม ซอฟต์แวร์วิเคราะห์ภาพ Photoshop ใช้ในการวิเคราะห์ภาพ SEM ค่าγ′หลักภายในที่กำหนด โดยหักค่าวัดขอบเขตเกรน (ข้อมูล EBSD) จากทั้งหมด (ข้อมูล SE) ผลเมล็ดภายในγ′หลักจำนวนความหนาแน่นได้ร่วมกับความหนาแน่นหมายเลขγ′มัธยมวัดγ′รองเฉลี่ยเศษ andprecipitate ขนาดพื้นที่ใช้ในรูปแบบผลผลิตให้Thin transmission electron microscope (TEM) foils and tapered atom probe tomography (APT) needles were produced at 6 mm, 50 mm, and 1 mm distances from the weld interface for use in APT and TEM analysis. The foils were milled from the sample using an FEI Nova 200 NanoLab Dual Beam (focused ion beam) FIB equipped with a Gaþ ion source and Pt gas injection system. TEM images were produced using a FEI Tecnai operating at 200 kV in both bright field and dark field modes and analyzed using Image J software [28]. Image J is a public domain Java based image analysis program that provides a processing framework for plugins and macros. Specific scripts were used to segment and measure γ′ in 10 dark field images from each of the TEM foil positions. APT samples were attached to silicon micro-tips and shaped to provide the required geometry. They were analyzed using a Cameca 3000X HR local electrode atom probe (LEAP) in LASER mode with an evaporation rate of 0.5–0.7%. The evaporation was done at a temperature of 40 K with a power of 0.3 nJ. 3D sample reconstructions and chemical compositions within the matrix and γ′ precipitates were developed using IVASs probe micro analysis (EPMA) measurements were obtained using a Cameca microprobe with line scans across the material, perpendicular to the weld interface. The total length of each line scan was 12 mm, covering 6 mm on either side of the weld line.The spacing between the measured points along the lines was 1 mm between 0 and 200 mm from the IFW interface on the Mar-M247 side and 0–350 mm from the IFW interface on the LSHR side. นอกเหนือจากเซ็กเมนต์นี้ ระยะห่างระหว่างจุดที่วัดได้ 100 mm. ความแข็งวัดได้รับมากับ Shimadzu แบบไดนามิกเครื่องทดสอบ Ultra-micro ความแข็ง (รุ่น DUH 211s) ใช้โหลด 98 นาทีและเวลาไว้ 10 น้อย 10 ความแข็งวัดในทิศทางที่ "y" ถูกดำเนินการที่แต่ละอินเทอร์เฟซเชื่อมห่าง "x" และเฉลี่ยให้ค่าสุดท้าย แต่ละวัดในทิศทางที่ "y" ถูกคั่น ด้วยอย่างน้อย 100 มม.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ตกตะกอนจึงมีลักษณะเป็นขอบเกรนหลักหรือγข้าวภายใน 'ตามสถานที่ตั้งของพวกเขา แต่น่าเสียดายที่ฝังภาพ SE ที่ให้รายละเอียดที่ชัดเจนของγหลัก 'ไม่ให้ความคมชัดที่เหมาะสมที่จะเน้นข้าวเขตแดน ที่จะเอาชนะปัญหานี้เทคนิค EBSD ถูกนำมาใช้ในตัวอย่างฝังเบา ๆ เพื่อตรวจสอบส่วนในพื้นที่และขนาดของγหลัก 'ที่ข้าวเขตแดน (จากพื้นที่ที่กลุ่มตัวอย่างขนาดใหญ่) เพราะγหลัก 'ถูกฝังเบาตกตะกอนที่ผลิตเลนส์ข้อมูลที่น่าสงสารมาก เมื่อแผนที่เสาผกผันได้ร่วมกับแผนที่ของคุณภาพของภาพและภาพทางทิศตะวันออก, γหลัก 'ได้รับแตกต่างจากธัญพืชγตามสีปฐมนิเทศขนาดและรูปร่างแตกต่างที่เห็นได้ชัดในข้อมูล EBSD การเก็บรวบรวมข้อมูลบนเฟ XL30 SEM ปฏิบัติการที่ 20 กิโลโวลต์โดยใช้กล้อง Bruker ความเร็วสูงที่มีขนาดขั้นตอนของ 50 นาโนเมตร ความละเอียดสูงฝัง SE ภาพ (ถ่ายบนเฟควอนตั้ม SEM การปฏิบัติงานที่ 5 กิโลโวลต์ที่กำลังขยายประมาณ 20,000 รองและ 6000 สำหรับหลัก) ถูกนำมาใช้ในการกำหนดγหลักรวมส่วนพื้นที่ Photoshop ซอฟต์แวร์การวิเคราะห์ภาพถูกนำมาใช้ในการวิเคราะห์ภาพ SEM การตกแต่งภายในหลักγ 'ค่าถูกกำหนดโดยการลบขอบเกรนวัดค่า (ข้อมูล EBSD) จากทั้งหมด (ข้อมูล SE) ส่งผลให้ข้าวภายในหลักγ 'ความหนาแน่นของจำนวนที่ถูกรวมกับγมัธยมวัดความหนาแน่นจำนวนที่จะให้ค่าเฉลี่ยของγรอง' พื้นที่ส่วนขนาด andprecipitate ใช้ในแบบจำลองอัตราผลตอบแทน. กล้องจุลทรรศน์บางอิเล็กตรอน (TEM) ฟอยล์และเรียวอะตอมสอบสวนเอกซ์เรย์ ( APT) เข็มมีการผลิตที่ 6 มมมม 50 และ 1 มิลลิเมตรระยะทางจากอินเตอร์เฟซที่เชื่อมสำหรับใช้ใน APT และ TEM วิเคราะห์ ฟอยล์ถูกโม่จากตัวอย่างการใช้เฟโนวา 200 NanoLab Dual Beam (ไอออนลำแสงที่มุ่งเน้น) FIB พร้อมกับแหล่งกำเนิดไอออนเมืองกัทและ Pt ระบบหัวฉีดก๊าซ ภาพ TEM ถูกผลิตโดยใช้การปฏิบัติงานที่ 200 กิโลโวลต์ทั้งในสนามที่สดใสและฟิลด์มืดโหมด FEI Tecnai และวิเคราะห์โดยใช้ซอฟต์แวร์ J [28] ภาพ J เป็นสาธารณสมบัติโปรแกรม Java การวิเคราะห์ภาพตามที่ให้กรอบการประมวลผลสำหรับปลั๊กอินและมาโคร สคริปต์ที่เฉพาะเจาะจงถูกนำมาใช้ในการแบ่งกลุ่มและวัดγ 'ใน 10 ภาพมืดจากแต่ละตำแหน่ง TEM ฟอยล์ ตัวอย่าง APT ติดอยู่กับซิลิกอนไมโครเคล็ดลับและรูปเพื่อให้รูปทรงเรขาคณิตที่จำเป็น พวกเขาถูกนำมาวิเคราะห์โดยใช้ Cameca 3000X ทรัพยากรบุคคลในท้องถิ่นอิเล็กโทรดอะตอมสอบสวน (LEAP) ในโหมดเลเซอร์ที่มีอัตราการระเหยของ 0.5-0.7% ระเหยได้ทำที่อุณหภูมิ 40 K มีอำนาจในการ 0.3 นิวเจอร์ซีย์ ไทปันตัวอย่าง 3 มิติและองค์ประกอบทางเคมีภายในเมทริกซ์และตกตะกอนγ 'ได้รับการพัฒนาโดยใช้การวิเคราะห์ IVASs สอบสวน Micro (EPMA) วัดที่ได้รับใช้ microprobe Cameca สแกนเส้นที่ขีดขวางวัสดุที่ตั้งฉากกับอินเตอร์เฟซที่เชื่อม รวมความยาวของสายการสแกนแต่ละครั้งคือ 12 มมครอบคลุม 6 มิลลิเมตรที่ด้านข้างของระยะห่างระหว่างเชื่อม line.The จุดวัดตามเส้นทั้ง 1 มมระหว่าง 0 และ 200 มมจากอินเตอร์เฟซ IFW ทางด้าน มี.ค. M247 และ 0-350 มิลลิเมตรจากอินเตอร์เฟซ IFW ในด้าน LSHR ได้. นอกเหนือจากกลุ่มเหล่านี้ระยะห่างระหว่างจุดที่วัดได้ 100 มิลลิเมตร การวัดความแข็งที่ได้รับกับ Shimadzu แบบไดนามิกอัลตร้าขนาดเล็กเครื่องทดสอบความแข็ง (โมเดล DUH-211s) โดยใช้โหลด 98 mN และ 10 วินาทีถือเวลา อย่างน้อย 10 วัดความแข็งใน "Y" ทิศทางได้ดำเนินการในแต่ละ "X" ระยะทางจากอินเตอร์เฟซที่เชื่อมและเฉลี่ยเพื่อให้ค่าสุดท้าย แต่ละวัดใน "Y" ทิศทางที่ถูกแยกออกอย่างน้อย 100 มิลลิเมตร