The surface composition and element

The surface composition and elemental chemical states of the samples were determined by Xray photoelectron spectroscopy (XPS) using a Kratos XSAM 800 spectrometer with Al Ka radiation as the excitation source.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

องค์ประกอบพื้นผิวและธาตุเคมีรัฐตัวอย่างดำเนินการ โดย Xray photoelectron สเปกโทรสโก (XPS) ด้วยสเปกโตรมิเตอร์ Kratos XSAM 800 Al Ka รังสีเป็นแหล่งกระตุ้น

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

องค์ประกอบพื้นผิวและสารเคมีธาตุรัฐของกลุ่มตัวอย่างได้รับการพิจารณาโดย Xray โฟโตอิเล็กตรอนสเปกโทรสโก (XPS) โดยใช้ Kratos XSAM 800 สเปกโตรมิเตอร์กับอัลการังสีเป็นแหล่งที่มากระตุ้น

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

พื้นผิวและองค์ประกอบทางเคมีของธาตุสหรัฐอเมริกาตัวอย่าง Xray photoelectron spectroscopy ( XPS ) โดยใช้ Kratos xsam 800 กับ อัล คาวัดรังสีเป็น 01