Applications includeIdentification

Applications include

Identification of spectrally overlapped elements, such as
S in the presence of Pb or Mo
W or Ta in Si, or N in Ti
Br in Al, common in semiconductor device failure

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ใช้งานรวมถึงรหัสขององค์ประกอบเหตุการณ์ spectrally เช่นS ในต่อหน้าของ Pb หรือ MoW หรือตาในซี หรือ N ในตี้Br ในอัล ในความล้มเหลวของอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ใช้งานรวมถึงบัตรประจำตัวขององค์ประกอบที่คาบเกี่ยวกันผีเช่นS ในการปรากฏตัวของตะกั่วหรือโมW หรือตาในศรีหรือไม่มีใน Ti Br ใน Al ทั่วไปในอุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์ความล้มเหลว

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รวมถึงการใช้งาน

การคาบเกี่ยวกันมากกว่องค์ประกอบเช่น
s ในการแสดงตนของ PB หรือโม
W หรือ TA ในจังหวัด หรือใน Ti
br ใน Al ทั่วไปในอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ