XRD diffraction patterns of natural

XRD diffraction patterns of natural bentonite, ZnO–bentonite nanocomposite are recorded on powder X-ray diffractometer (Philips PW 1800) with Cu K˛ radiation (LFF tube 35 kV, 50 mA). Scanning electron microscopy (SEM) image was taken on JSM- 6400 (JEOL). Transmission electron microscopy (TEM) image was taken on a Philips Tecnai 20 model, which has resolution of 2 ˚A unit and AC voltage 200 kV. FTIR spectra are of ZnO–bentonite nanocomposite before and after phenol treatment are recorded on FTIR Spectrophotometer (Perkin-Elmer, model BX2) in the range 4000–400 cm−1.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูปแบบการเลี้ยวเบน XRD ของเบนโทไนท์ธรรมชาตินาโนคอมโพสิต ZnO-เบนโทไนท์ที่มีการบันทึกไว้ใน diffractometer ผงเอ็กซ์เรย์ (ฟิลิปส์ PW 1800) ด้วยการฉายรังสี Cu K (หลอด LFF 35 กิโลโวลต์, 50 มิลลิแอมป์) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน (SEM) ภาพที่ถ่ายบน JSM- 6400 (JEOL) ส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (TEM) ภาพที่ได้รับการดำเนินการในฟิลิปส์ Tecnai 20 รูปแบบซึ่งมีความละเอียด 2 หน่วยและแรงดันไฟฟ้ากระแสสลับ 200 กิโลโวลต์ สเปกตรัม FTIR มีซิงค์ออกไซด์นาโนคอมโพสิต-เบนโทไนท์ก่อนและหลังการรักษาฟีนอลมีการบันทึกไว้ใน FTIR Spectrophotometer (เพอร์กินเอลเมอรุ่น BX2) ในช่วง 4000-400 ซม-1

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปแบบการเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์ของเบนทอไนต์ธรรมชาติ ซิงค์ออกไซด์นาโนคอมโพสิตและเบนโทไนท์ บันทึกไว้ในผงเอ็กซ์เรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ ( Philips PW 1800 ) ที่มี Cu K ˛รังสี ( หลอดโดยทั้ง 35 กิโล มา 50 ) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ภาพที่ถ่ายใน JSM - 6400 ( Jeol ) ส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( TEM ) ภาพที่ถูกถ่ายในฟิลิปส์ tecnai 20 รุ่น ซึ่งมีความละเอียด 2 ˚หน่วยและ AC แรงดัน 200 KV .FTIR spectra ของซิงค์ออกไซด์นาโนคอมโพสิตและเบนโทไนท์ ก่อนและหลังการรักษาจะถูกบันทึกไว้ในฟีนอล ( Spectrophotometer ( เพอร์กินเอลเมอร์ รุ่น bx2 ) ในช่วง 4 , 000 - 400 ซม.
− 1