XRD and SEManalysis were conducted

XRD and SEManalysis were conducted onfractured specimens after
compressive strength test using a Philips X’Celerator diffractometer
with a Cu K1 radiation and JSM-5910 LV microscope equippedwith EDX microanalysis.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

XRD และ SEManalysis ได้ onfractured ดำเนินการไว้เป็นตัวอย่างหลังจากทดสอบความแรง compressive ใช้ diffractometer ฟิลิปส์ X'CeleratorCu K1 รังสีและ LV JSM-5910 กล้องจุลทรรศน์ประกอบเรื่อง microanalysis

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

XRD และ SEManalysis ได้ดำเนินการตัวอย่าง onfractured
หลังจากการทดสอบแรงอัดใช้มาตรการเลี้ยวเบนฟิลิปส์X'Celerator
กับรังสี Cu K1 และ JSM-5910 กล้องจุลทรรศน์ LV equippedwith EDX microanalysis

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

และการทดลอง XRD semanalysis onfractured ตัวอย่างหลังจากทดสอบกำลังอัดที่ใช้ Philips

x'celerator ดิฟแฟรกโทมิเตอร์กับ CU K1 รังสีและ jsm-5910 LV แบบจัดเรียงกันอยู่
equippedwith การวัด .