X-ray diffraction of raw and extrud

X-ray diffraction of raw and extruded DCF was determined according
to Jin et al. (2007). The scan was carried out in an X-ray
diffractor (RIGAGU# 0/M AX-2500, Japan). The measurement conditions
were CuKa (1.54 nm), 40 kV, 100mA, 2q ¼ 10e40
, scan rate
10
/min, reflection model. Pure cellulose was used as reference,
with the diffraction peak at 2q ¼ 23
corresponding region. The
intensity of the diffraction peak at 2q ¼ 23
for all samples was a
measure of their relative crystallinity, and thiswas used to compare
raw and extruded DCF for structural modification.
The crystallinity index (CI) was calculated using the following
equation (Gutherie, 1955).
CI
% ¼
Ip  IamIp  100
where, Ip is the peak intensity and Iam is the intensity attributed to
amorphous cellulose.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เอ็กซ์เรย์การเลี้ยวเบนของ DCF ดิบ และ extruded กำหนดตามการจิ้น et al. (2007) การสแกนถูกดำเนินในการเอ็กซ์เรย์diffractor (RIGAGU # 0 M AX-2500 ญี่ปุ่น) เงื่อนไขการวัดได้ CuKa (1.54 nm), 40 kV, 100mA, 2q ¼ 10e40 อัตราการสแกน10 /min รูปสะท้อน ใช้เป็นข้อมูลอ้างอิง เซลลูโลสบริสุทธิ์ด้วยยอดการเลี้ยวเบนที่ 2q ¼ 23 ภูมิภาคที่สอดคล้องกัน ที่ความเข้มของจุดสูงสุดของการเลี้ยวเบนที่ 2q ¼ 23 ตัวอย่างทั้งหมดได้วัดของ crystallinity ญาติ thiswas ที่ใช้ในการเปรียบเทียบวัตถุดิบ และ extruded DCF สำหรับการปรับเปลี่ยนโครงสร้างมีคำนวณดัชนี crystallinity (CI) ใช้ต่อไปนี้สมการ (Gutherie, 1955)CI %¼ Ip Iam Ip 100ที่ Ip ความเข้มสูง และ Iam ความรุนแรงที่เกิดจากการเซลลูโลสไป

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

X-ray diffraction ของ DCF ดิบและอัดถูกกำหนดตาม
ที่จินและคณะ (2007) สแกนได้ดำเนินการใน X-ray
diffractor (RIGAGU # 0 / M AX-2500, ญี่ปุ่น) เงื่อนไขการวัด
เป็น Cuka (1.54 นาโนเมตร), 40 กิโลโวลต์, 100mA, 2q ¼ 10e40 ?, อัตราการสแกน
10? / นาที, รูปแบบการสะท้อน เซลลูโลสบริสุทธิ์ถูกใช้เป็นอ้างอิง
ที่มียอดการเลี้ยวเบนที่ 2q ¼ 23? ภูมิภาคที่เกี่ยวข้อง
ความเข้มของยอดการเลี้ยวเบนที่ 2q ¼ 23? สำหรับกลุ่มตัวอย่างทั้งหมดเป็น
ตัวชี้วัดของผลึกญาติของพวกเขาและ thiswas ใช้ในการเปรียบเทียบ
DCF ดิบและอัดสำหรับการปรับเปลี่ยนโครงสร้าง.
ดัชนีผลึก (CI) ที่คำนวณได้ใช้ต่อไปนี้
สมการ (GUTHERIE 1955).
CI?%? ¼? Ip? เอี่ยม ?? Ip? 100
ที่ IP เป็นจุดสูงสุดและเอี่ยมเป็นความรุนแรงประกอบกับ
เซลลูโลสสัณฐาน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์ของวัตถุดิบและอัด ซึ่งจะถูกกำหนดตาม
จิน et al . ( 2007 ) สแกนข้อมูลในเครื่อง X-ray
diffractor ( rigagu # 0 m / ax-2500 , ญี่ปุ่น ) เงื่อนไขการวัด
ถูก cuka ( 1.54 nm ) , 40 กิโล 100mA , 2Q ¼ 10e40
สแกนอัตรา
10
/ มิน แบบสะท้อน เซลลูโลสบริสุทธิ์ถูกใช้เป็นอ้างอิง
กับเลนส์สูงสุดใน 2Q ¼ 23
สอดคล้องภูมิภาค
ความเข้มของเลนส์สูงสุดใน 2Q ¼ 23
สำหรับตัวอย่างทั้งหมดเป็น
วัดผลึกสัมพัทธ์ และหลังจากนั้นจะใช้เปรียบเทียบ
ดิบและอัดเพื่อปรับเปลี่ยนโครงสร้าง 2 .
ดัชนีความเป็นผลึก ( CI ) คำนวณได้โดยใช้สมการต่อไปนี้
( gutherie 1955 ) .
CI
%  ¼
IP  เอี่ยม   IP  100
ที่ IP คือความเข้มสูงสุดและเอี่ยมเป็นความรุนแรงเกิดจาก
สัณฐานเซลลูโลส