The microstructures of the samples

The microstructures of the samples were observed with a scanning electron microscope (SEM) using both secondary electron and back-scattered electron (BSE) modes.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Microstructures ตัวอย่างถูกสังเกต ด้วยการการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) ใช้รองอิเล็กตรอนและอิเล็กตรอนกระจายอยู่หลัง (BSE) โหมด

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

จุลภาคของกลุ่มตัวอย่างพบกับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) ใช้ทั้งอิเล็กตรอนทุติยภูมิและอิเล็กตรอนกลับกระจัดกระจาย (BSE) โหมดการ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

โครงสร้างของตัวอย่างที่พบด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) โดยใช้การกระจายอิเล็กตรอนอิเล็กตรอนและกลับ ( BSE ) โหมด