The refractive indices have been ac

The refractive indices have been acquired using a spectroscopic ellipsometer (VASE, J.A. Woollam, U.S.A). The ellipsometric variables (Ψ and Δ) have been measured at three different angles of incidence (55°, 65° and 75°) over 360–2000 nm spectral region. The optical modeling has been conducted using the VASE32 (J.A. Woollam, U.S.A.) software package. The Raman spectrum was measured for TZNTEr001 sample by using a Renishaw in Via Raman Microscope (U.S.A) upon excitation at 786 nm laser excitation.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ดัชนีหักเหของแสงได้รับมาใช้ ellipsometer ด้าน (แจกัน เจเอ Woollam, U.S.A) ตัวแปร ellipsometric (ΨและΔ) ได้รับการวัดที่สามต่างมุมของอุบัติการณ์ (55°, 65° ถึง 75°) ผ่าน 360-2000 nm สเปกตรัมภูมิภาค มีการดำเนินการสร้างโมเดลแสงใช้ VASE32 แพคเกจซอฟต์แวร์ (เจเอ Woollam สหรัฐอเมริกา) สเปกตรัมราถูกวัดสำหรับตัวอย่าง TZNTEr001 โดยใช้การ Renishaw ในด้วยราไมโครสโคป (U.S.A) เมื่อกระตุ้นที่ 786 nm เลเซอร์กระตุ้น

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ดัชนีการหักเหของแสงได้รับมาใช้ ellipsometer สเปกโทรสโก (แจกัน JA Woollam, สหรัฐอเมริกา) ตัวแปร ellipsometric (ΨและΔ) ได้รับการวัดที่สามมุมที่แตกต่างกันของอุบัติการณ์ (55 ° 65 °และ 75 °) 360-2000 กว่าภูมิภาคสเปกตรัมนาโนเมตร แบบจำลองออปติคอลได้รับการดำเนินการโดยใช้แพคเกจซอฟต์แวร์ VASE32 (JA Woollam, สหรัฐอเมริกา) สเปกตรัมรามันวัดตัวอย่าง TZNTEr001 โดยใช้ Renishaw ใน Via รามันกล้องจุลทรรศน์ (USA) เมื่อกระตุ้นที่กระตุ้นเลเซอร์ 786 นาโนเมตร

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ดัชนี refractive ได้มาใช้ลิปโซมิเตอร์สเปกโทรสโกปี ( แจกัน , j.a. woollam , USA ) ตัวแปร ellipsometric ( Ψ และΔ ) ได้รับการวัดที่สามมุมของอุบัติการณ์ ( 55 / 65 / 75 องศา ) กว่า 360 – 2000 nm ความยาวคลื่น ) การแสงมีวัตถุประสงค์การใช้ vase32 ( j.a. woollam , USA ) แพคเกจซอฟต์แวร์ สเปกตรัมรามัน เป็นวัด tznter001 ตัวอย่างโดยใช้ 10 ในผ่านรามันกล้องจุลทรรศน์ ( USA ) เมื่อความตื่นเต้นที่ 786 nm เลเซอร์กระตุ้น .