The repeatability for the NHq–ISFET

The repeatability for the NHq–ISFET is better in the 4 normal mode of measurement. For 10 tests, the variation of the slope is 1 mVrpNH error of 1.7 to 2% while in q Ž . 4 the differential mode, the variation of the slope is 4 mVrpNH error of 9 to 16% .

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ทำซ้ำสำหรับ NHq – ISFET ดีกว่าในโหมดปกติ 4 การวัด สำหรับการทดสอบ 10 การเปลี่ยนแปลงของความชัน 1 mVrpNH ข้อผิดพลาดอยู่ 1.7-2% ใน q Ž 4 โหมดที่แตกต่างกัน การเปลี่ยนแปลงของความชันคือ mVrpNH ผิดพลาด 4% 9-16

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ทำซ้ำสำหรับ NHq-ISFET จะดีกว่าในโหมดปกติ 4 ของการวัด 10 การทดสอบรูปแบบของความลาดชันที่เป็นข้อผิดพลาด 1 mVrpNH 1.7 ถึง 2% ขณะที่อยู่ใน Q Ž 4 โหมดที่แตกต่างกัน, การเปลี่ยนแปลงของความลาดชันคือ 4 ข้อผิดพลาดของ mVrpNH 9-16%

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การเติบโตใน nhq – isfet จะดีกว่าใน 4 โหมดปกติของการวัด 10 การทดสอบการเปลี่ยนแปลงของความลาดชัน 1 mvrpnh ข้อผิดพลาดของ 1.7 2% ในขณะที่ Q Ž . 4 ) โหมดการเปลี่ยนแปลงของความลาดชัน เป็น 4 mvrpnh ข้อผิดพลาด 9 ถึง 16 %