In the context of x-ray diffraction

In the context of x-ray diffraction,topographic methods are used to survey the lattice structure and imperfections in crystalline materials

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ในบริบทของการเลี้ยวเบนเอ็กซ์เรย์ topographic ใช้วิธีการสำรวจโครงตาข่ายประกอบโครงสร้างและข้อบกพร่องในวัสดุผลึก

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ในบริบทของการ x-ray diffraction วิธีภูมิประเทศที่ใช้ในการสำรวจโครงสร้างตาข่ายและความไม่สมบูรณ์ในวัสดุผลึก

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ในบริบทของการเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์ วิธีที่ใช้สำรวจภูมิประเทศขัดแตะโครงสร้างและความไม่สมบูรณ์ในวัสดุผลึก