2.3.1. XRDX-ray diffraction (XRD) a

2.3.1. XRD
X-ray diffraction (XRD) analyses of stainless steel thin films were
performed using a SIEMENS D500/501 diffractometer using Cu-Kα radiation
(λ = 1.5406 Å). XRD data were collected for 2θ in the range of
40°–140°. The diffractometer was equipped with a graphite monochromator
placed before the detector to eliminate Kβ radiation.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.3.1 การ XRDได้วิเคราะห์การเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์ (XRD) ของฟิล์มบางเหล็กสแตนเลสดำเนินการโดยใช้ diffractometer ซีเมนส์ D500/501 ที่ใช้รังสี Cu-Kα(Λ = 1.5406 Å) มีการรวบรวมข้อมูล XRD สำหรับ 2θ ในช่วง40° – 140° การ diffractometer พร้อมกับ monochromator เป็นกราไฟท์วางก่อนจับเพื่อกำจัดรังสี Kβ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.3.1 XRD
X-ray การเลี้ยวเบน (XRD) การวิเคราะห์ของฟิล์มบางสแตนเลสถูก
ดำเนินการโดยใช้ SIEMENS D500 / 501 diffractometer ใช้รังสี Cu-Kα
(λ = 1.5406 A) ข้อมูลที่ถูกเก็บรวบรวม XRD สำหรับ2θในช่วงของ
40 ° -140 ° diffractometer พร้อมกับ monochromator ไฟท์
วางไว้ก่อนที่เครื่องตรวจจับเพื่อขจัดรังสีKβ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.3.1 . รังสีเอ็กซ์เครื่อง X-ray diffraction ( XRD ) และฟิล์มบางเหล็กสแตนเลสคือการใช้ D500 / ซีเมนส์ 501 ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ใช้ cu-k αรังสี( λ = 1.5406 Å ) วิเคราะห์ข้อมูล 2 θในช่วงของ40 °– 140 องศา . การดิฟแฟรกโทมิเตอร์เป็นอุปกรณ์แกรไฟต์โมโนโครเมเตอร์วางไว้ก่อนเครื่องกำจัด K บีตารังสี