For the SEM observation, control sh

For the SEM observation, control sheet and chitosan-coated testpieces were placed, in front and sideway positions so as to visual-ize both their surface and cross-section. After the carbon coatingprocedure, the samples were analyzed using an ultra-high resolu-tion analytical scanning electron microscope HR-FESEM HitachiSU-70, operating at 1.5 kV

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สำหรับการสังเกต SEM แผ่นควบคุมและชิ้นทดสอบที่เคลือบไคโตซานถูกวางไว้ในตำแหน่งด้านหน้าและด้านข้างเพื่อให้เห็นภาพทั้งพื้นผิวและหน้าตัด หลังจากขั้นตอนการเคลือบคาร์บอน ตัวอย่างถูกวิเคราะห์โดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดเชิงวิเคราะห์ความละเอียดสูงพิเศษ HR-FESEM HitachiSU-70 ซึ่งทำงานที่ 1.5 kV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สำหรับการสังเกต SEM ตัวอย่างภาพถ่ายและเคลือบไคโตซานจะถูกวางไว้ที่ด้านหน้าและด้านข้างเพื่อให้เห็นภาพพื้นผิวและส่วนตัดขวาง วิเคราะห์ตัวอย่างด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน HR-FESEM HitachiSU-70 ที่มีความละเอียดสูงเป็นพิเศษ ทำงานที่ 1.5kV หลังจากขั้นตอนการเคลือบคาร์บอน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สําหรับการสังเกตการณ์SEMให้วางรูปถ่ายและตัวอย่างที่เคลือบด้วยไคโตซานไว้ด้านหน้าและด้านข้างเพื่อสังเกตพื้นผิวและส่วนตัดขวางของพวกเขา หลังจากการเคลือบด้วยคาร์บอนแล้วตัวอย่างจะถูกวิเคราะห์โดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกนด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกนด้วยความละเอียดสูงที่1.5กิโลวัตต์