by an ultrasonic cutter into small,

by an ultrasonic cutter into small, rectangular chips. These chips of indium
arsenide are then placed on a thin ceramic substrate and soldered to a
conducting pattern on the substrate, as shown in Figure 7.28.
Once made, the Hall probe is normally coated with epoxy to protect the
semiconductor compound and other components.
To use the probe, an electric current is passed through the length of the
In As chip, as shown in Figure 7.29. Note that the contact areas for passing
current through the Hall element are made larger than the ones for detecting
the Hall voltage. Typically, current on the order of 10−1 A is passed through
the Hall element. This is known as the control current. Care must be taken
when using a Hall probe never to put the control current through the output.
Because the solder contacts for the voltage sensing are very small, the
control current can melt these solder joints. This may destroy or damage the
Hall probe.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

โดยการตัดอัลตราโซนิกเป็นเศษเล็ก สี่เหลี่ยม นี้ชิอินเดียมarsenide จะวางอยู่บนพื้นผิวเซรามิกบาง แล้ว soldered ไปทำลวดลายบนพื้นผิว ดังที่แสดงในรูปที่ 7.28เมื่อทำ โพรบหอปกติเคลือบ ด้วยอีพ๊อกซี่เพื่อป้องกันการสารกึ่งตัวนำผสมและส่วนประกอบอื่น ๆการใช้โพรบ กระแสไฟฟ้าผ่านมาทางความยาวของใบในเป็นชิป เป็นแสดงในรูป 7.29 สังเกตว่า พื้นที่ติดต่อสำหรับการส่งผ่านปัจจุบันผ่านองค์ประกอบของฮอลล์จะมีขนาดใหญ่กว่าอยู่สำหรับการตรวจสอบแรงดันไฟฟ้าฮอลล์ โดยปกติ ผ่านการปัจจุบันขั้น 10−1 Aองค์ประกอบของฮอลล์ การนี้เรียกว่าตัวควบคุมปัจจุบัน ต้องมาดูแลเมื่อใช้โพรบหอไม่ให้ตัวควบคุมปัจจุบันผ่านการแสดงผลเนื่องจากผู้ติดต่อประสานในการตรวจวัดแรงดันไฟฟ้าขนาดเล็กมาก ในปัจจุบันควบคุมสามารถละลายเหล่านี้ประสานรอยต่อได้ นี้อาจทำลาย หรือสร้างความเสียหายโพรบฮอลล์

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

โดยตัดอัลตราโซนิกเป็นขนาดเล็ก, ชิปสี่เหลี่ยม ชิปเหล่านี้ของอินเดียม
arsenide
จะถูกวางไว้แล้วบนพื้นผิวเซรามิกบางและบัดกรีให้กับรูปแบบการดำเนินการบนพื้นผิวดังแสดงในรูปที่7.28.
ทำเมื่อสอบสวนฮอลล์เคลือบปกติด้วยอีพ็อกซี่เพื่อปกป้องสารประกอบเซมิคอนดักเตอร์และส่วนประกอบอื่น ๆ . เพื่อ ใช้หัววัดที่กระแสไฟฟ้าจะถูกส่งผ่านความยาวของที่ในฐานะที่เป็นชิปดังแสดงในรูปที่7.29 โปรดทราบว่าพื้นที่ที่ติดต่อสำหรับการส่งผ่านกระแสผ่านองค์ประกอบที่ฮอลล์จะทำขนาดใหญ่กว่าคนสำหรับการตรวจสอบแรงดันไฟฟ้าที่ฮอลล์ โดยปกติแล้วในปัจจุบันเกี่ยวกับคำสั่งของ 10-1 จะผ่านองค์ประกอบที่ฮอลล์ นี้เรียกว่าการควบคุมในปัจจุบัน ต้องระมัดระวังเป็นพิเศษเมื่อใช้การสอบสวนฮอลล์ไม่เคยที่จะนำการควบคุมในปัจจุบันผ่านการส่งออก. เพราะรายชื่อประสานสำหรับการตรวจจับแรงดันไฟฟ้าที่มีขนาดเล็กมากการควบคุมในปัจจุบันสามารถละลายข้อต่อเหล่านี้ นี้อาจทำลายหรือสร้างความเสียหายสอบสวนฮอลล์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

โดยการตัดความถี่ออกเป็นชิ้นๆสี่เหลี่ยมขนาดเล็ก เหล่านี้ชิปของอินเดียมอาร์เซไนด์
แล้ววางบนบางพื้นผิวเซรามิกและบัดกรี เพื่อดำเนินการรูปแบบ
บนพื้นผิว , ดังแสดงในรูปที่ 10 .
เมื่อทำห้องสอบสวนโดยปกติจะเคลือบด้วยอีพ็อกซี่ป้องกัน
สารกึ่งตัวนำสารประกอบและส่วนประกอบอื่น ๆ .
ใช้โพรบกระแสไฟฟ้าผ่านความยาวของ
เป็นชิ ดังแสดงในรูปที่ 7.29 . หมายเหตุที่ติดต่อสำหรับพื้นที่ผ่าน
ปัจจุบันผ่านองค์ประกอบของ Hall มีขนาดใหญ่กว่าตัวตรวจจับ
ฮอลล์แรงดันไฟฟ้า โดยทั่วไปแล้ว ปัจจุบันในการสั่งซื้อ 10 − 1 คือผ่าน
ฮอลล์องค์ประกอบ นี้เรียกว่าการควบคุมปัจจุบัน การดูแลจะต้องถ่าย
เมื่อใช้ห้องสอบสวนไม่เคยใส่การควบคุมในปัจจุบันผ่านการส่งออก .
เพราะประสานติดต่อสำหรับแรงดันไฟฟ้าตรวจจับมีขนาดเล็กมาก ปัจจุบัน
ควบคุมสามารถหลอมข้อต่อเหล่านี้ นี้อาจทำลายหรือความเสียหาย
ฮอลล์ด้วย