The morphology of grown samples wer

The morphology of grown samples were characterized
at room temperature by scanning electron microscopy
(SEM, ZEISS EVO MA10) and their crystalline
properties were investigated by X-ray diffraction
(XRD, D8-Advance, M/s Bruker) measured with
CuKα radiation.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

มีลักษณะสัณฐานวิทยาของตัวอย่างที่ปลูกที่อุณหภูมิห้องโดยสแกน microscopy อิเล็กตรอน(SEM, ZEISS EVO MA10) และความเป็นผลึกคุณสมบัติตรวจสอบ โดยเอ็กซ์เรย์การเลี้ยวเบน(XRD, D8 ล่วงหน้า Bruker M/s) ที่วัดด้วยCuKα รังสี

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สัณฐานวิทยาของกลุ่มตัวอย่างที่ปลูกมีลักษณะที่อุณหภูมิห้องโดยการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน
(SEM, ZEISS EVO MA10)
และผลึกของพวกเขาคุณสมบัติได้รับการตรวจสอบโดยX-ray diffraction
(XRD, D8-Advance, M / s Bruker)
วัดรังสีCuKα

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สัณฐานวิทยาของโตจำนวนลักษณะที่อุณหภูมิห้องโดยการสแกน

อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM , Zeiss Evo ma10 ) และคุณสมบัติของผลึกนี้ได้

โดยการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ ( XRD , d8 ล่วงหน้า , m / s
cuk α BRUKER ) วัดรังสี