3. Results and discussion3.1. Chara

3. Results and discussion
3.1. Characterization of ZnO anchored SiO2 NPs (ZSO-X)
The XRD patterns of ZSO-X (X < 14.2) showed amorphous structure
whatever the Zn amount, instead ZSO-14.2 and ZSO-50.2 with
higher ZnO loading, showed the reflections of the wurtzite phase
(JCPDS Card no. 36-1451, Fig. S1 in Supporting information).
TEM and HRTEM images of ZSO-4.0, ZSO-7.7 and ZSO-50.2 are
shown in Fig. 1.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

3. ผลลัพธ์ และสนทนา3.1 การจำแนกของ ZnO ยึด SiO2 NPs (ZSO-X)รูปแบบ XRD ของ ZSO-X (X < 14.2) แสดงให้เห็นโครงสร้างไปสิ่ง Zn จำนวน แทน ZSO-14.2 และ 50.2 สา ZSO ด้วยโหลด ZnO สูง แสดงการสะท้อนของเฟส wurtzite(เสีย JCPDS บัตรจ่ายหมายเลข 36-ตปา ฟิก S1 สนับสนุนข้อมูล)ยการและ HRTEM ภาพ ZSO 4.0, ZSO 7.7 และ 50.2 สา ZSO มีแสดงใน Fig. 1

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

3. ผลการอภิปรายและ
3.1 ลักษณะของซิงค์ออกไซด์ทอดสมอ SiO2 NPS (ZSO-X)
รูปแบบ XRD ของ ZSO-X (X <14.2)
พบว่าโครงสร้างสัณฐานสิ่งที่จำนวนเงินสังกะสีแทนZSO-14.2 และ ZSO-50.2
มีการโหลดซิงค์ออกไซด์ที่สูงขึ้นแสดงให้เห็นภาพสะท้อนของwurtzite ที่ เฟส
(บัตรไม่มี JCPDS. 36-1451, รูป. S1 ข้อมูลสนับสนุน).
TEM และภาพ HRTEM ของ ZSO-4.0 ZSO-7.7 และ ZSO-50.2
มีการแสดงในรูป 1

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

3 . ผลและการอภิปราย
3.1 . คุณสมบัติของซิงค์ออกไซด์ ( SiO2 zso-x โดยยึดรูปแบบของ zso-x XRD )
( X < 14.2 ) มีโครงสร้างอสัณฐานที่ปริมาณสังกะสี
แทน และ zso-50.2 ด้วย
zso-14.2 โหลดไฟฟ้าสูงกว่า มีภาพสะท้อนของ wurtzite เฟส
( jcpds บัตรไม่ 36-1451 , ฟิค S1 ในการสนับสนุนข้อมูล
TEM และ hrtem ) รูปภาพของ zso-4.0 zso-7.7 zso-50.2
, และเป็นปิดการ 1 ทีม .