Figure 4.6 Open fault effects with

Figure 4.6 Open fault effects with Fail-safe capacitor, (a) Open pin fault with general capacitor, (b) Open pin fault with fail-safe capacitor

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เรื่องตัวเก็บประจุ fail-safe ตรึงลักษณะบกพร่องเปิดรูป 4.6 กับ Fail-safe ตัวเก็บประจุ เรื่องทั่วไปตัวเก็บประจุ, (b) เปิด pin (ก) เปิด

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูปที่ 4.6 ผลกระทบต่อความผิดเปิดด้วยตัวเก็บประจุล้มเหลวปลอดภัย (ก) ความผิดขาเปิดด้วยตัวเก็บประจุทั่วไป (ข) ความผิดขาเปิดด้วยตัวเก็บประจุไม่ปลอดภัย

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปที่ 4.6 เปิดผิดต่อตัวเก็บประจุกับล้มเหลวปลอดภัย ( ) ผิด pin เปิดด้วยตัวเก็บประจุทั่วไป ( ข ) ผิด pin เปิดกับล้มเหลวตัวเก็บประจุที่ปลอดภัย