Ionic contamination reportStatus: M

Ionic contamination report
Status: MANDATORY
Applicable standard: IPC TM650 / 2.3.25 static extraction method §6
Specific standard:
The ionic contamination measurement is to be done and reported for each production batch.
Solvent system:
A 50% v/v 2-propanol / DI water is use.
Result: continue till asymptote.
Criterium: IPC-S-815B and ANSI/J-STD-001
Microsection analysis report
Status: MANDATORY
Applicable standard: IPC 6011
Specific standard:
Unless explicitly requested, microsection is to be done on PCB for every delivery that includes design changes. The
Microsection samples are to be provided by PCB manufacturer to GA-CML.
Horizontal cross sections are specific requirements
Solder mask quality test report
Status: MANDATORY
Applicable standard: IPC 6012
Specific standard:
Unless explicitly requested, a solder mask quality test is to be performed for each manufacturing batch.
Electrical test report
Status: MANDATORY
Applicable standard: IPC 6011
Specific standard:
Unless explicitly requested, electrical test is to be performed 100% on 100% PCB of the panel. The measurement mean
reference must be given in the report, including last calibration date if applicable.
Impedance measurement report
Status: OPTIONAL
Applicable standard: IPC 6012
Specific standard:
This is only upon explicit request. In case of RF sensitive design, Impedance of critical traces is to be measured and reported
to GA-CML. The measurement mean reference must be given in the report, including last calibration date if applicable.
The list of critical tracks is to be provided by GA-CML.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รายงานปน Ionicสถานะ: บังคับมาตรฐานที่เกี่ยวข้อง: IPC TM650 / 2.3.25 §6 วิธีสกัดคงมาตรฐานเฉพาะ:วัดปน ionic ได้จะทำรายงานแต่ละชุดการผลิตระบบตัวทำละลาย:เป็น 50% v/v 2-อย่างไร propanol น้ำ DI เป็น ใช้ผล: ทำต่อไปจนถึง asymptoteCriterium: IPC-S-815B และ ANSI/J-STD-001Microsection วิเคราะห์สถานะ: บังคับมาตรฐานที่เกี่ยวข้อง: IPC 6011มาตรฐานเฉพาะ:เว้นแต่ร้องขออย่างชัดเจน microsection จะสามารถทำได้บน PCB สำหรับการจัดส่งทุกที่มีการเปลี่ยนแปลงการออกแบบ ที่ตัวอย่าง Microsection จะมีการให้บริการ โดยผู้ผลิต PCB GA CML.ส่วนข้ามแนวนอนมีข้อกำหนดเฉพาะประสานรูปแบบรายงานการทดสอบคุณภาพสถานะ: บังคับมาตรฐานที่เกี่ยวข้อง: IPC 6012มาตรฐานเฉพาะ:เว้นแต่ร้องขออย่างชัดเจน การทดสอบคุณภาพของรูปแบบการประสานคือการดำเนินการสำหรับแต่ละชุดการผลิตรายงานทดสอบไฟฟ้าสถานะ: บังคับมาตรฐานที่เกี่ยวข้อง: IPC 6011มาตรฐานเฉพาะ:เว้นแต่ร้องขออย่างชัดเจน ทดสอบไฟฟ้าจะมีการดำเนินการ 100% ใน 100% PCB แผง หมายถึงการประเมินต้องได้รับการอ้างอิงในรายงาน รวมถึงล่าสุดวันเทียบกับรายงานการวัดความต้านทานสถานะ: ไม่จำเป็นมาตรฐานที่เกี่ยวข้อง: IPC 6012มาตรฐานเฉพาะ:อยู่ตามอย่างชัดเจน ในกรณีออกแบบสำคัญ RF ความต้านทานของร่องรอยที่สำคัญคือการวัด และรายงานการ GA CML. ต้องได้รับการอ้างอิงหมายถึงการวัดในรายงาน รวมวันสุดท้ายเทียบกับรายการแทร็คที่สำคัญคือการให้ GA CML.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รายงานการปนเปื้อนของอิออนสถานะ: บังคับมาตรฐานใช้งานได้: IPC TM650 / 2.3.25 วิธีการสกัดคง§ 6 มาตรฐานที่เฉพาะเจาะจง: การวัดการปนเปื้อนไอออนิกที่จะต้องทำและรายงานชุดการผลิตแต่ละ. ระบบตัวทำละลาย: 50% ปริมาตร / ปริมาตร 2 โพรพาน / DI น้ำคือการใช้. ผล: การดำเนินการต่อไปจนสิ้นสุด. เกณฑ์: IPC-S-815B และ ANSI / J-STD-001 Microsection วิเคราะห์รายงานสถานะ: บังคับมาตรฐานใช้งานได้: IPC 6011 มาตรฐานที่เฉพาะเจาะจง: ยกเว้นในกรณีที่มีการร้องขออย่างชัดเจน microsection ที่จะต้องทำ เมื่อวงจรสำหรับการจัดส่งที่มีการเปลี่ยนแปลงการออกแบบทุก ตัวอย่าง Microsection จะได้รับจากผู้ผลิต PCB เพื่อ GA-CML. ส่วนข้ามแนวนอนมีความต้องการที่เฉพาะเจาะจงประสานรายงานการทดสอบคุณภาพหน้ากากสถานะ: บังคับมาตรฐานใช้งานได้: IPC 6012 มาตรฐานที่เฉพาะเจาะจง: ยกเว้นในกรณีที่มีการร้องขออย่างชัดเจนการทดสอบคุณภาพหน้ากากประสานคือที่จะดำเนินการ สำหรับแต่ละชุดการผลิต. รายงานผลการทดสอบไฟฟ้าสถานะ: บังคับมาตรฐานใช้งานได้: IPC 6011 มาตรฐานที่เฉพาะเจาะจง: ยกเว้นในกรณีที่มีการร้องขออย่างชัดเจนทดสอบไฟฟ้าที่จะดำเนินการ 100% ใน PCB 100% ของแผง การวัดหมายถึงการอ้างอิงจะต้องได้รับในรายงานรวมถึงวันสุดท้ายของการสอบเทียบถ้ามี. ความต้านทานวัดรายงานสถานะ: ตัวเลือกมาตรฐานใช้งานได้: IPC 6012 มาตรฐานที่เฉพาะเจาะจง: นี้เป็นเพียงเมื่อมีการร้องขออย่างชัดเจน ในกรณีที่มีการออกแบบที่มีความละเอียดอ่อน RF, ความต้านทานของร่องรอยที่สำคัญคือการวัดและรายงานที่จะGA-CML การวัดหมายถึงการอ้างอิงจะต้องได้รับในรายงานรวมถึงวันสุดท้ายของการสอบเทียบถ้ามี. รายการของแทร็คที่สำคัญคือการให้บริการโดย GA-CML

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

อิออนรายงานการปนเปื้อน

สถานะ : บังคับใช้มาตรฐาน : IPC ๓หน่วยกิต / 2.3.25 คงที่วิธีการสกัด§ 6

โดยเฉพาะมาตรฐานการวัดการปนเปื้อนไอออนจะทำและรายงานแต่ละชุดการผลิต ในระบบตัวทำละลาย :

50 % v / v / โพรพานอลดิ น้ำใช้ ผลต่อไปจนกว่ามูลฐาน
: .
เกณฑ์ : ipc-s-815b และ ANSI / j-std-001

สถานะ : รายงานการวิเคราะห์ microsection บังคับ
มาตรฐานที่ใช้ : IPC 6011

ยกเว้นเฉพาะมาตรฐานอย่างชัดเจน ขอ microsection จะทำบน PCB สำหรับการจัดส่งทุก ซึ่งรวมถึงการเปลี่ยนแปลงการออกแบบ
microsection ตัวอย่างจะถูกจัดไว้ให้โดยผู้ผลิต PCB ga-cml .
ส่วนแนวนอนข้ามความต้องการเฉพาะ
หน้ากากประสานรายงานการทดสอบคุณภาพ

สถานะ : บังคับใช้มาตรฐาน : 6012 เฉพาะมาตรฐาน :

:ถ้าขายขอ , หน้ากากประสานคุณภาพการทดสอบจะทำการผลิตแต่ละชุด .

ทดสอบทางไฟฟ้า : รายงานสถานะการบังคับใช้มาตรฐาน : :

:
6011 มาตรฐานเฉพาะเว้นแต่อย่างชัดเจนที่ต้องการทดสอบไฟฟ้าจะดำเนินการ 100% 100% PCB ของแผง การวัดหมายถึง
อ้างอิงต้องระบุในรายงานการสอบเทียบ รวมถึงวันที่สุดท้ายถ้ามี
รายงานสถานภาพการวัดความต้านทานมาตรฐานใช้ได้ก็ได้

: :

: 6012 มาตรฐานเฉพาะนี้เป็นเพียงขึ้นอยู่กับความต้องการที่ชัดเจน ในกรณีของ RF ออกแบบที่มีอิมพีแดนซ์ของร่องรอยที่สำคัญคือต้องวัดได้ และรายงานให้ ga-cml
. การวัดหมายถึงอ้างอิงต้องระบุในรายงานการสอบเทียบ รวมถึงวันที่สุดท้ายถ้ามี
รายชื่อเพลงที่สำคัญคือ ให้มี ga-cml .