Scanning electron microscopy (SEM)T

Scanning electron microscopy (SEM)
The fracture surface of the sample was sputter-coated with gold
layer before examination, and the morphology micrographs of the
composites were obtained by using FEI Quanta200 SEM (Holand),
which the accelerating voltage was 20 kV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Microscopy อิเล็กตรอนสแกน (SEM)ทำให้พื้นผิวของตัวอย่างถูก sputter เคลือบ ด้วยทองชั้นก่อนสอบ และ micrographs สัณฐานวิทยาของการคอมโพสิตที่ได้รับ โดยใช้ SEM Quanta200 เฟย (Holand),ซึ่งแรงดันไฟฟ้าปัจจุบัน 20 kV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน (SEM)
พื้นผิวการแตกหักของกลุ่มตัวอย่างที่ได้รับการพ่นเคลือบด้วยทองคำชั้นก่อนที่จะตรวจสอบและไมโครสัณฐานวิทยาของคอมโพสิตที่ได้รับโดยใช้เฟQuanta200 SEM (Holand) ซึ่งแรงดันเร่ง 20 กิโลโวลต์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM )

ผิวแตกจำนวนมิดหมีเคลือบด้วยทอง
ชั้นก่อนสอบ และสัณฐานวิทยาของ micrographs
คอมได้รับโดยใช้เฟย quanta200 SEM ( Holand )
ซึ่งเร่งแรงดัน 20 KV .