The crystal structure and phase pur

The crystal structure and phase purity of the samples were investigated using powder XRD.
The powder X-ray diffraction study was performed using X’Pert diffractometer with Ka radiation of wavelength 1.5406 ˚A.
A beam voltage of 40 KV and a 30 mA beam current were used.

The data were recorded at a continuous scan rate of 0.31/min and the phase was identified with JCPDS database.
Fig. 1 represents the XRD patterns of synthesized ZnO.
All difractograms show the nine prominent peaks (indexed with JCPDS 36-1451) which are narrowed and highly intense.
This reveals that the formed products have good crystallinity.
The peak intensity of the (1 0 1) reflection for the as-prepared ZnO samples decreases in the order A34A24A1 and hence the crystallinity of the samples also deter in the same order.
From the peak intensities, it is also inferred that the growth velocity of the nano rods
formed at pH 9 is very high compared to those formed at pH of 11 and 13 which is confirmed by the length of the rods obtained from SEM images.
The average crystallite sizes of the as-prepared samples were determined using Debye Scherer’s formula (Eq. 1).
For the crystallite size analysis, the highly intense and sharp diffraction peak at 2y¼36.31 corresponds to the (1 0 1) diffraction of the ZnO hexagonal wurtzite phase is employed.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

คริสตัลโครงสร้างและระยะความบริสุทธิ์ของตัวอย่างถูกตรวจสอบโดยใช้ผง XRD
ผงศึกษาการเลี้ยวเบนเอ็กซ์เรย์ที่ดำเนินการใช้ X'Pert diffractometer Ka รังสีของความยาวคลื่น 1.5406 ˚A
ความแรงแสง 40 KV และ 30 mA ลำปัจจุบันถูกใช้

ข้อมูลถูกบันทึกที่อัตราการสแกนต่อเนื่อง$ 0.31/min และระยะเป็น identified ฐานข้อมูล JCPDS
ฟิก 1 แสดงรูปแบบ XRD ของสังเคราะห์ ZnO
difractograms ทั้งหมดแสดงเก้าเด่นแห่ง (ดัชนีกับ JCPDS ตปา 36) ที่มีจำกัด และรุนแรงมากขึ้น
นี้พบว่า รูปแบบผลิตภัณฑ์มี crystallinity ดี
ความเข้มสูงสุดของ (1 0) reflection สำหรับตัวอย่าง ZnO ที่เตรียมเป็นลดลงในใบสั่ง A34A24A1 และดังนั้น crystallinity ของตัวอย่างยังเป็นอุปสรรคในลำดับเดียวกัน
จากการปลดปล่อยก๊าซสูงสุด มันจะยังสรุปที่เร็วเจริญเติบโตของก้านนาโน
เกิดขึ้นที่ค่า pH 9 มีสูงมากเมื่อเทียบกับที่เกิดขึ้นที่ค่า pH 11 และ 13 ซึ่งเป็น confirmed โดยความยาวของก้านที่ได้รับจากภาพ SEM
ขนาด crystallite เฉลี่ยของตัวอย่างที่เตรียมเป็นถูกกำหนดโดยใช้สูตรของ Scherer Debye (Eq. 1) .
สำหรับการวิเคราะห์ขนาด crystallite การเลี้ยวเบนที่รุนแรง และคมชัดสูง peak ที่ 2y¼3631 ตรง (1 0 1) การเลี้ยวเบนของระยะหกเหลี่ยม wurtzite ZnO เป็นลูกจ้าง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

โครงสร้างผลึกและความบริสุทธิ์ขั้นตอนของตัวอย่างที่ได้รับการตรวจสอบโดยใช้ XRD ผง
ผงศึกษาการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ที่ได้รับการดำเนินการโดยใช้ X'Pert diffractometer ด้วยรังสี Ka ของความยาวคลื่น 1.5406 ˚ A.
แรงดันคานจาก 40 KV และคาน mA 30 ปัจจุบัน ถูกนำมาใช้ข้อมูลที่ถูกบันทึกไว้ในอัตราการสแกนอย่างต่อเนื่องของ 0.31/min และเฟสที่ถูกระบุกับฐานข้อมูล JCPDS รูป 1 แสดงให้เห็นถึงรูปแบบ XRD ของซิงค์ออกไซด์ที่สังเคราะห์difractograms ทั้งหมดแสดงเก้ายอดเขาที่โดดเด่น (การจัดทำดัชนีที่มี JCPDS 36-1451) ซึ่งแคบและรุนแรงสูงนี้แสดงให้เห็นว่าผลิตภัณฑ์ที่เกิดขึ้นมีผลึกที่ดีจุดสูงสุดของ (1 0 1 ) สะท้อนให้เห็นถึงการเป็นตัวอย่างที่เตรียมซิงค์ออกไซด์ลดลงใน A34A24A1 การสั่งซื้อและด้วยเหตุนี้ผลึกของตัวอย่างที่ยังเป็นอุปสรรคในลำดับเดียวกันจากความเข้มสูงสุดก็ยังมีการสรุปว่าความเร็วการเจริญเติบโตของแท่งนาโนที่เกิดขึ้นที่ pH 9 ที่สูงมากเมื่อเทียบกับที่เกิดขึ้นที่พีเอช 11 และ 13 ซึ่งได้รับการยืนยันโดยความยาวของแท่งที่ได้รับจากภาพ SEM ขนาดผลึกเฉลี่ยของกลุ่มตัวอย่างที่เตรียมได้รับการพิจารณาโดยใช้สูตรเดอบายเรอร์ (สมการ 1) สำหรับ การวิเคราะห์ขนาดผลึกยอดเลนส์สูงที่รุนแรงและความคมชัดที่ 2y ¼ 36.31 สอดคล้องกับ (1 0 1) การเลี้ยวเบนของเฟส wurtzite ZnO หกเหลี่ยมเป็นลูกจ้าง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

โครงสร้างผลึกและความบริสุทธิ์เฟสของกลุ่มตัวอย่าง เมื่อใช้ผง XRD .
แป้งการเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์ศึกษาโดยใช้ x'pert ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ด้วยค่ะ˚ความยาวคลื่นรังสีของ 1.5406 .
คานแรงดัน 40 กิโล และมา 30 ลำปัจจุบันมาใช้

ข้อมูลที่ถูกบันทึกไว้ที่ต่อเนื่องอัตราการสแกนของ 0.31/min และระยะคือ identi จึงเอ็ดกับฐานข้อมูล jcpds .
รูป1 แสดงถึงรูปแบบของ XRD ได้เช่นกัน difractograms
ทั้งหมดแสดงเด่นเก้ายอด ( ดัชนีที่มี jcpds 36-1451 ) ซึ่งจะแคบและสูงรุนแรง
นี้ พบว่า มีผลิตภัณฑ์ที่ดีขึ้นของผลึก .
ความเข้มสูงสุดของ 1 0 1 ) Re fl ection เพื่อเป็นตัวอย่างเพื่อเตรียมซิงค์ออกไซด์ลดลงใน a34a24a1 และด้วยเหตุนี้ผลึกของกลุ่มตัวอย่างที่ยังเป็นอุปสรรคในลำดับเดียวกัน
จากระดับความเข้ม มันก็มีการเจริญเติบโตที่ความเร็วของแท่ง
นาโนเกิดขึ้นที่ pH 9 สูงมากเมื่อเทียบกับผู้ที่ก่อตั้งขึ้นที่พีเอช 11 และ 13 ซึ่งเป็นคอน จึง rmed โดยความยาวของแท่งเชื้อเพลิงที่ได้จาก SEM ภาพ
เฉลี่ยขนาดผลึกของตัวอย่างเป็นเตรียมใช้ เชอร์เรอร์ ดีบายสูตร ( อีคิว 1 ) .
สำหรับขนาดผลึกการวิเคราะห์ , สูง เข้มข้นสูงสุด และเลนส์ที่คม 2y ¼ 3631 สอดคล้องกับ 1 0 1 ) การเลี้ยวเบนของสังกะสีหกเหลี่ยม wurtzite เฟสที่ใช้