Room temperature X-ray powder diffr

Room temperature X-ray powder diffraction patterns of various SiO2 matrices under various firing condition:
(a) the unfired SiO2 matrix, (b) the SiO2 matrix fired for an hour at 823K in air, (c) the SiO2 matrix fired for an hour at 1573K in air and (d) the SiO2 matrix fired for 6h at 1573K in air.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

อุณหภูมิห้องเอกซเรย์ผงการเลี้ยวเบนรูปแบบของเมทริกซ์ SiO2 ต่าง ๆ ภายใต้เงื่อนไขยิงต่าง ๆ: (กเมตริกซ์) SiO2 unfired เมตริกซ์ SiO2 (ข)ยิงสำหรับชั่วโมงที่ 823K ในอากาศ เมทริกซ์ (c) SiO2 ยิงสำหรับชั่วโมงที่ 1573K ในอากาศ และเมตริกซ์ SiO2 (d)ถ่านสำหรับ h 6 ที่ 1573K ในอากาศ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

อุณหภูมิห้องรูปแบบการเลี้ยวเบนผงเอ็กซ์เรย์ของการฝึกอบรม SiO2 ต่างๆภายใต้เงื่อนไขการยิงต่างๆ:
(ก) unfired เมทริกซ์ SiO2 (ข) เมทริกซ์ SiO2 ยิงชั่วโมงที่ 823K ในอากาศ (ค) เมทริกซ์ SiO2 ยิงเป็นเวลาหนึ่งชั่วโมง ที่ 1573K ในอากาศและ (ง) เมทริกซ์ SiO2 ยิง 6h ที่ 1573K ในอากาศ