The scanning electron microscope an

The scanning electron microscope analysis (SEM) was performed on a FEI Quanta 3D 200 dual beam focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ทำการวิเคราะห์กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) ตาม 3D ควอนตั้มเฟย 200 ลำแสงคู่โฟกัสไอออนบีมกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM โลตอแหล)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การวิเคราะห์กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) ได้รับการดำเนินการบนเฟควอนตั้ม 3D 200 คานคู่มุ่งเน้น Ion Beam กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (FIB-SEM)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( SEM ) และแสดงบนเฟย Quanta 3D 200 คู่ลำแสงโฟกัสลำแสงไอออนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( fib-sem )