can be identified by noting the sys

can be identified by noting the systematic presence (or absence) of reflections in the diffraction pattern (refer to Sec. 2.8 in Part 1 for details)

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สามารถระบุได้ ด้วยการสังเกตเป็นระบบมี (หรือไม่) ของแสงสะท้อนในรูปแบบการเลี้ยวเบนของแสง (ดู 2.8 วินาทีในส่วนที่ 1 สำหรับรายละเอียด)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สามารถระบุได้โดยสังเกตการปรากฏตัวของระบบ (หรือไม่มี) สะท้อนในรูปแบบการเลี้ยวเบน (โปรดดู Sec. 2.8 ในส่วนที่ 1 สำหรับรายละเอียด)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สามารถระบุได้โดยสังเกตสถานะระบบ ( หรือขาด ) ของการสะท้อนในรูปแบบการเลี้ยวเบน ( อ้างถึงวินาที 2.8 ในส่วนรายละเอียด ) 1