3.3. Atomic force microscopyFig. 4

3.3. Atomic force microscopy
Fig. 4 depicts the tapping mode AFM image of a CeO2 thin film of thickness 240 nm, annealed at temperature 500 ◦C, and from the image of Fig. 4, it is evident that CeO2 thin films exhibit large nicely separated conical columnar microstructure with the measured roughness of (area Ra = 2.38 nm) and (area RMS= 3.11 nm). When the mean free path of free charge carriers becomes comparable with the dimensions of the grains, the surface influence on the charge mobility becomes dominant [16]. Thus, the gassensing properties are based on surface reactions between the
sensing material and the gases [17]. Surface roughness is directly proportional to the gas sensitivity of the film since larger roughness results in larger contact area with the gaseous species. This is a manifestation of the importance of surface-to-volume ratio in gas-sensing applications [16]. Another feature associated with columnar microstructure, which is also of crucial importance in gas-sensing applications, is porosity. Porosity arises due to the presence of voids in the columnar microstructure. These voids provide direct access for the gas molecules to flowin fromthe environment [18]. XPS analysis (Section 3.2) provides further evidence on the porosity of the films. This observation of high porosity confirms the similar findings of XPS and optical results discussed in Sections 3.1 and 3.2.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

3.3 กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมรูป 4 แสดงให้เห็นภาพ AFM โหมดแตะด้วยฟิล์มบาง CeO2 ของหนา 240 nm อบที่อุณหภูมิ 500 ◦C และจากภาพที่ 4 รูป จะเห็นว่า ฟิล์มบาง CeO2 แสดงจุลภาคขนาดใหญ่เรียงเป็นแนวตั้งกรวยแยกอย่างกับวัดที่ขรุขระของ (พื้นที่ Ra = 2.38 nm) และ (ตั้ง RMS = 3.11 nm) เมื่อเทียบกับขนาดของเมล็ดหมายถึงเส้นทางฟรีของสายการบินค่าธรรมเนียมฟรี อิทธิพลพื้นผิวในการเคลื่อนไหวของค่าธรรมเนียมกลายเป็นโดดเด่น [16] ดังนั้น gassensing คุณสมบัติเป็นไปตามปฏิกิริยาที่พื้นผิวระหว่างการจับวัสดุและก๊าซ [17] พื้นผิวขรุขระเป็นสัดส่วนโดยตรงกับก๊าซความไวแสงของฟิล์มตั้งแต่ผลขรุขระขนาดใหญ่ในพื้นที่ขนาดใหญ่ติดต่อกับชนิดก๊าซ นี้เป็นการแสดงถึงความสำคัญของอัตราส่วนพื้นผิวการไดรฟ์ข้อมูลในการตรวจวัดก๊าซใช้งาน [16] คุณสมบัติอื่นที่เกี่ยวข้องกับโครงสร้างจุลภาคที่เรียงเป็นแนวตั้ง ซึ่งเป็นความสำคัญสำคัญในการตรวจวัดก๊าซใช้งาน มีความพรุน ความพรุนที่เกิดขึ้นเนื่องจากการปรากฏตัวของช่องว่างในโครงสร้างจุลภาคเรียงเป็นแนวตั้ง ช่องว่างเหล่านี้ให้เข้าตรงโมเลกุลก๊าซถึง flowin จากสภาพแวดล้อม [18] วิเคราะห์ XPS (หัวข้อ 3.2) ให้เพิ่มเติมหลักฐานเกี่ยวกับความพรุนของภาพยนตร์ สังเกตความพรุนสูงนี้ยืนยันผลการวิจัยที่คล้ายกันของ XPS และผลแสงที่กล่าวถึงในหัวข้อ 3.1 และ 3.2

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

3.3 กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม
รูป 4 แสดงให้เห็นแตะที่ภาพโหมด AFM ของ CEO2 ฟิล์มบางของความหนา 240 นาโนเมตรอบที่อุณหภูมิ 500 ◦Cและจากภาพของมะเดื่อ 4 จะเห็นว่าฟิล์มบาง CEO2 แสดงขนาดใหญ่แยกออกจากกันอย่างจุลภาคเสากรวยกับความหยาบกร้านของวัด (พื้นที่ RA = 2.38 นาโนเมตร) และ (พื้นที่ RMS = 3.11 นาโนเมตร) เมื่ออิสระหมายความว่าเส้นทางของผู้ให้บริการค่าใช้จ่ายฟรีกลายเป็นเทียบเท่ากับขนาดของเมล็ดที่มีอิทธิพลต่อการเคลื่อนไหวบนพื้นผิวของค่าใช้จ่ายที่จะกลายเป็นที่โดดเด่น [16] ดังนั้นคุณสมบัติ gassensing จะขึ้นอยู่กับปฏิกิริยาที่พื้นผิวระหว่าง
วัสดุและการตรวจวัดก๊าซ [17] พื้นผิวที่ขรุขระเป็นสัดส่วนโดยตรงกับความไวก๊าซของหนังเรื่องนี้ตั้งแต่ผลความหยาบกร้านขนาดใหญ่ในพื้นที่ติดต่อขนาดใหญ่ที่มีสายพันธุ์ที่เป็นก๊าซ นี้คือการประกาศถึงความสำคัญของอัตราส่วนพื้นสู่ปริมาณในการใช้งานก๊าซการตรวจวัด [16] คุณสมบัติอื่น ๆ ที่เกี่ยวข้องกับจุลภาคเสาซึ่งเป็นความสำคัญสำคัญในการใช้งานการตรวจวัดก๊าซเป็นรูพรุน พรุนที่เกิดขึ้นเนื่องจากการมีช่องว่างในจุลภาคคอลัมน์ ช่องว่างเหล่านี้ให้การเข้าถึงโดยตรงสำหรับโมเลกุลของแก๊สเพื่อ flowin สภาพแวดล้อม fromthe [18] วิเคราะห์ XPS (มาตรา 3.2) มีหลักฐานเพิ่มเติมเกี่ยวกับความพรุนของภาพยนตร์ การสังเกตของความพรุนสูงนี้เป็นการยืนยันผลการวิจัยที่คล้ายกันของ XPS และผลแสงกล่าวไว้ในหัวข้อ 3.1 และ 3.2

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

3.3 . กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมรูปที่ 4 แสดงให้เห็นการโหมด AFM ภาพของ CeO2 ฟิล์มหนา 240 nm , อบที่อุณหภูมิ 500 ◦ C และจากภาพในรูปที่ 4 จะเห็นได้ว่าฟิล์มบาง CeO2 จัดแสดงขนาดใหญ่อย่างดีแยกจาน มีโครงสร้างจุลภาคกับการวัดความหยาบของ ( พื้นที่รา = 2.38 nm ) และ ( พื้นที่ RMS = 3.11 nm ) เมื่อหมายถึงเส้นทางของฟรีฟรีพาหะจะเทียบเคียงกับมิติของธัญพืช , พื้นผิวที่มีประจุเคลื่อนที่กลายเป็นเด่น [ 16 ] ดังนั้น gassensing คุณสมบัติจะขึ้นอยู่กับปฏิกิริยาระหว่างผิวตรวจจับวัตถุและก๊าซ [ 17 ] ความหยาบของพื้นผิวจะเป็นสัดส่วนโดยตรงกับก๊าซความไวของฟิล์มตั้งแต่ความขรุขระผลขนาดใหญ่ในพื้นที่ติดต่อที่มีขนาดใหญ่ชนิดก๊าซ นี้เป็นเครื่องของความสำคัญของผิวที่มีปริมาณอัตราส่วนในการใช้งาน [ 16 ] ก๊าซ อีกคุณสมบัติที่เกี่ยวข้องกับมีโครงสร้างจุลภาค ซึ่งยังเป็นความสำคัญอย่างยิ่งในการใช้แก๊ส มีรูพรุน ความพรุนเกิดจากการปรากฏตัวของช่องว่างในคอลัมน์จุลภาค ช่องว่างเหล่านี้มีการเข้าถึงโดยตรงสำหรับก๊าซโมเลกุลเพื่อสิ่งแวดล้อมจากผู้ศึกษามาก่อนโดยเลือก [ 18 ] การวิเคราะห์ XPS ( มาตรา 3 ) ให้หลักฐานเพิ่มเติมในรูพรุนของภาพยนตร์ การสังเกตนี้ของความพรุนสูงยืนยันผลที่คล้ายกันของ XPS และผลแสงที่กล่าวถึงในส่วน 3.1 และ 3.2 .