Single Event Effect (SEE) is known

Single Event Effect (SEE) is known as one of the major effects that may occur when a single radiation ionizing particles strikes the silicon. This effect can be destructive and non-destructive. An example of destructive effect is Single Event Latchup (SEL) that results in a high operating current, above device specifications, that must be corrected by a power reset. Non-destructive effects are defined as a transient effect fault provoked by the interaction of a single energized particles in drain PN junction of the off-state transistors. This strike may upset a node of the circuit and thus generate a transient voltage pulse that can be interpreted as internal signals and lead to an erroneous result [11]. When the transient pulse occurs in a memory element, such as a register, it is classified as Single Event Upset (SEU). When the particle hits a combinational element, inducing a pulse in the combinational logic, the upset is classified as Single Event Transient (SET).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ผลเหตุการณ์เดียว (ดู) เป็นลักษณะสำคัญที่อาจเกิดขึ้นเมื่อมีรังสีเดียวอนุภาคไอออนไนซิ่งซิลิโคนที่ เรียกว่า ผลกระทบนี้สามารถทำลาย และไม่ทำลาย ตัวอย่างของผลกระทบที่ทำลายคือ เดียวเหตุการณ์ Latchup (SEL) ที่มีผลการดำเนินงานปัจจุบัน ข้างต้นข้อกำหนดของอุปกรณ์ ที่ต้องแก้ไข โดยการรีเซ็ตไฟสูง โดยไม่ทำลายผลถูกกำหนดเป็นความผิดชั่วคราวมีผลยั่วยุ โดยการโต้ตอบของอนุภาคมีพลังงานเดี่ยวในท่อระบายน้ำ PN junction ของทรานซิสเตอร์ปิดสถานะ ตีนี้อาจอารมณ์เสียโหนของวงจร และจึง สร้างแรงดันชีพจรที่สามารถตีความเป็นสัญญาณภายใน และนำไปสู่ผลลัพธ์ผิดพลาด [11] เมื่อชีพจรชั่วคราวเกิดขึ้นในองค์ประกอบหน่วยความจำ เช่น ทะเบียนถูกจัดประเภทเป็นเดียวเหตุการณ์อารมณ์เสีย (SEU) เมื่ออนุภาคฮิตเป็นองค์ประกอบที่แสนอบอุ่น ชีพจรในวงจร กระตุ้นให้เกิดอารมณ์เสียที่ถูกจัดประเภทเป็นเหตุการณ์ชั่วคราว (ชุดเดียว)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

โสดเหตุการณ์ผล (ดู) เป็นที่รู้จักกันว่าเป็นหนึ่งในผลกระทบที่สำคัญที่อาจเกิดขึ้นเมื่อมีการฉายรังสีเดียวโอโซนอนุภาคนัดซิลิกอน ผลกระทบนี้จะสามารถทำลายและไม่ทำลาย ตัวอย่างของผลกระทบทำลายคือเดี่ยวเหตุการณ์ Latchup (SEL) ที่จะส่งผลให้การดำเนินงานปัจจุบันสูงกว่าข้อกำหนดของอุปกรณ์ที่จะต้องได้รับการแก้ไขโดยตั้งไฟ ผลกระทบที่ไม่ทำลายจะถูกกำหนดเป็นความผิดมีผลชั่วคราวกระตุ้นโดยการทำงานร่วมกันของอนุภาคมีพลังงานเดียวในท่อระบายน้ำแยก PN ทรานซิสเตอร์นอกรัฐ การนัดหยุดงานนี้อาจทำให้เสียโหนดของวงจรและทำให้สร้างแรงดันไฟฟ้าชั่วคราวที่สามารถตีความว่าเป็นสัญญาณภายในและนำไปสู่ผลที่ผิดพลาด [11] เมื่อชีพจรชั่วคราวเกิดขึ้นในองค์ประกอบของหน่วยความจำเช่นการลงทะเบียนก็จะจัดเป็นกิจกรรมเดี่ยวอารมณ์เสีย (SEU) เมื่ออนุภาคฮิตองค์ประกอบผสม, การกระตุ้นให้เกิดการเต้นของชีพจรในตรรกะเชิงผสมอารมณ์เสียจัดเป็นโสดเหตุการณ์ชั่วคราว (SET)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ผลกระทบเหตุการณ์เดียว ( เห็น ) เป็นที่รู้จักกันเป็นหนึ่งในหลักของผลกระทบที่อาจจะเกิดขึ้นเมื่อรังสี ionizing อนุภาคเดี่ยวกัดซิลิคอน ผลกระทบนี้จะสามารถทำลายและแบบไม่ทำลาย . ตัวอย่างของการทำลาย ผลคือ latchup เหตุการณ์เดียว ( SEL ) ที่มีผลในการดำเนินงานสูงในปัจจุบันข้างต้นกำหนดอุปกรณ์ที่ต้องได้รับการแก้ไขโดยอำนาจใหม่ ผลทำลายไม่ใช่ถูกกำหนดเป็นแบบผลผิดเพราะปฏิสัมพันธ์ของพลังงานอนุภาคเดี่ยวในท่อระบายน้ำ PN Junction ในสถานะปิดทรานซิสเตอร์ โจมตีนี้อาจไม่พอใจ ปมของวงจรไฟฟ้า และดังนั้นจึง สร้างพัลส์แรงดันไฟฟ้าชั่วคราวที่สามารถตีความเป็นสัญญาณภายใน และนำไปสู่การผิดพลาดผล [ 11 ] เมื่อชีพจรชั่วคราวที่เกิดขึ้นในความทรงจำขององค์ประกอบ เช่น การลงทะเบียน มันจัดเป็นเหตุการณ์เดียวอารมณ์เสีย ( เสือ ) เมื่ออนุภาคฮิตองค์ประกอบชนิด , กระตุ้นชีพจรในตรรกะชนิด , โกรธจัดเป็นเหตุการณ์เดียวชั่วคราว ( ชุด )