Fourier transforms infra-red spectr

Fourier transforms infra-red spectroscopy (FTIR) was also used for further structural analysis of the as-synthesized NaY materials. IR spectrum was recorded by means of a Perkin-Elmer PE-2000 FTIR spectrometer. A mixture of the sample and KBr was pressed into a thin wafer for FTIR measurements.. into two classes including; 1) those assigned to the internal vibrations of TO4 tetrahedron (i.e. the primary units of the NaY structure) that are not sensitive to other structural vibrations and 2) vibrations which may be related to the linkages between tetrahedral that are sensitive to the structural vibrations [11]. In addition, T–O bending, double ring vibrations, as well as symmetrical and asymmetrical stretching are also assigned in the FTIR spectra. In the FTIR spectra, the peak at 467 cm−1 can be assigned to the internal TO4 (T_Si, Al) tetrahedral bending of the NaY zeolitic structure. Furthermore, the peaks appeared at 568 cm−1 can be attributed to the double ring external linkage and the peaks at 685 cm−1 and 775 cm−1 should be assigned to the symmetrical stretching of the external link- age and internal tetrahedral, respectively. Overall, the FTIR spectrum of the sample can be evaluated as a characteristic FTIR spectrum of NaY zeolite

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

นอกจากนี้ ฟูริเยร์ทรานส์ฟอร์มอินฟาเรดสเปกโทรสโกปี (FTIR) ยังใช้สำหรับการวิเคราะห์โครงสร้างของวัสดุ NaY ที่ถูกสังเคราะห์เพิ่มเติมอีกด้วย สเปกตรัม IR ถูกบันทึกโดยใช้สเปกโตรมิเตอร์ Perkin-Elmer PE-2000 FTIR ส่วนผสมของตัวอย่างและ KBr ถูกกดลงในแผ่นเวเฟอร์บางๆ สำหรับการวัด FTIR.. ออกเป็นสองคลาส ได้แก่; 1) การสั่นสะเทือนภายในของจัตุรมุข TO4 (เช่น ยูนิตหลักของโครงสร้าง NaY) ที่ไม่ไวต่อการสั่นสะเทือนของโครงสร้างอื่นๆ และ 2) การสั่นสะเทือนที่อาจเกี่ยวข้องกับการเชื่อมโยงระหว่างจัตุรมุขที่มีความไวต่อการสั่นสะเทือนของโครงสร้าง [ 11]. นอกจากนี้ สเปกตรัม FTIR ยังกำหนดให้การดัดงอ T–O การสั่นสะเทือนของวงแหวนคู่ รวมถึงการยืดแบบสมมาตรและไม่สมมาตรด้วย ในสเปกตรัม FTIR สามารถกำหนดจุดสูงสุดที่ 467 ซม. ให้กับการโค้งงอแบบจัตุรมุข TO4 (T_Si, Al) ภายในของโครงสร้างซีโอลิติก NaY นอกจากนี้ ยอดเขาที่ปรากฏที่ 568 ซม.−1 สามารถนำมาประกอบกับจุดเชื่อมต่อภายนอกที่มีวงแหวนคู่ และยอดเขาที่ 685 ซม.−1 และ 775 ซม.−1 ควรถูกกำหนดให้กับการยืดแบบสมมาตรของจุดเชื่อมต่อภายนอกและจัตุรมุขภายใน ตามลำดับ . โดยรวมแล้ว สเปกตรัม FTIR ของตัวอย่างสามารถประเมินได้ว่าเป็นสเปกตรัม FTIR ที่มีลักษณะเฉพาะของซีโอไลต์ NaY

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ฟูริเยร์แปลงอินฟราเรดสเปกตรัม (FTIR) ยังใช้ในการวิเคราะห์โครงสร้างเพิ่มเติมของวัสดุ NaY สังเคราะห์ บันทึกสเปกตรัม IR ผ่าน Perkin Elmer PE-2000 FTIR Spectrometer กดส่วนผสมของตัวอย่างและ KBr ลงในเกล็ดสำหรับการวัด FTIR .. แบ่งออกเป็น 2 ประเภท ได้แก่ 1) การสั่นสะเทือนที่จัดสรรให้กับการสั่นสะเทือนภายในของ TO4 tetrahedral (เช่นหน่วยหลักของโครงสร้าง NaY) ซึ่งไม่ไวต่อการสั่นสะเทือนของโครงสร้างอื่น ๆ และ 2) การสั่นสะเทือนที่อาจเกี่ยวข้องกับการเชื่อมต่อระหว่าง tetrahedral ที่ไวต่อการสั่นสะเทือนของโครงสร้าง [11] นอกจากนี้ในสเปกตรัม FTIR ยังเป็นของ T-O ดัดการสั่นสะเทือนแบบวงแหวนคู่และการยืดสมมาตรและอสมมาตร ในสเปกตรัม FTIR, ยอดที่ 467cm-1 สามารถเป็นของ TO4 (T_SI, Al) ภายในโครงสร้างซีโอไลต์ NaY โค้งสี่เหลี่ยม นอกจากนี้ยอดเขาที่ปรากฏที่ 568 ซม. -1 สามารถนำมาประกอบกับห่วงโซ่ด้านนอกแหวนคู่และ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การแปลงฟูเรียร์อินฟราเรดสเปกโตรสโกปี( FTIR )ยังใช้สําหรับการวิเคราะห์โครงสร้างของวัสดุสังเคราะห์NaY สเปกโตรสโกปีอินฟราเรดถูกบันทึกโดยสเปกโตรสโกปีPerkin-Elmer PE-2000 FTIR ส่วนผสมของตัวอย่างและKBrถูกกดลงในแผ่นบางๆสําหรับการวัดFTIR :แบ่งออกเป็นสองประเภทได้แก่1 )การสั่นสะเทือนที่เกี่ยวข้องกับการสั่นสะเทือนภายในของtetrahedral (หน่วยพื้นฐานของโครงสร้างNaY )ซึ่งไม่ไวต่อการสั่นสะเทือนของโครงสร้างอื่นๆ 2 )การสั่นสะเทือนที่อาจเกี่ยวข้องกับการเชื่อมต่อระหว่างtetrahedralที่ไวต่อการสั่นสะเทือนของโครงสร้าง[ 11 ] นอกจากนี้การดัดของt-oการสั่นสะเทือนของวงแหวนคู่และการยืดสมมาตรและอสมมาตรยังตกอยู่ในสเปกตรัมFTIR ในสเปกตรัมFTIRยอดที่467ซม.-1สามารถนํามาประกอบกับการดัดรูปtetrahedralภายในto4 ( t _ Si,al )ของโครงสร้างซีโอไลต์NaY นอกจากนี้ยอดที่ปรากฏใน568ซม.-1สามารถนํามาประกอบกับการเชื่อมต่อภายนอกของวงแหวนคู่ในขณะที่ยอดที่ปรากฏใน685ซม.-1และ775ซม.-1ควรเป็นผลมาจากการเชื่อมต่อภายนอกและการยืดสมมาตรของtetrahedralภายในตามลําดับ โดยทั่วไปสเปกตรัมFTIRของตัวอย่างสามารถประเมินได้ว่าเป็นสเปกตรัมFTIRลักษณะของซีโอไลต์NaY