radiation (40 kV, 30 mA) in steps o

radiation (40 kV, 30 mA) in steps of 0.01 at a scanning rate
of 7/min from 20 to 70 under the atmospheric pressure.
The optical constants and thicknesses of the films were characterized
using Variable Angle Spectroscopic Ellipsometer
(VASE) (J.A. Woollam Co., Inc) at wavelengths ranging from
300 nm to 800 nm at an angle of 70. Absorbance, transmittance
was recorded using UV–vis spectrophotometer
(Shimadzu) along a range of wavelengths from 200 nm to
800 nm

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รังสี (40 kV, 30 mA) ในขั้นตอนของ 0.01 อัตราการสแกนของ /min 7 จาก 20 เป็น 70 ภายใต้ความดันบรรยากาศค่าคงที่แสงและความหนาของฟิล์มถูกลักษณะใช้ตัวแปรมุมสเปคตรัม Ellipsometer(แจกัน) (เจเอ Woollam Co., Inc) ที่ความยาวคลื่นตั้งแต่300 เป็น 800 nm nm ที่มุม 70 ค่า จัดส่งบันทึกโดยใช้ UV – vis สเปค(Shimadzu) ตามช่วงของความยาวคลื่น 200 nm เพื่อ800 nm

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การฉายรังสี (40 กิโลโวลต์ 30 MA) ในขั้นตอนที่ 0.01? ในอัตราการสแกน
ของ 7? / นาทีตั้งแต่วันที่ 20? 70? ภายใต้ความดันบรรยากาศ.
ค่าคงที่ของแสงและความหนาของฟิล์มมีลักษณะ
ใช้ตัวแปรมุมสเปกโทรสโก Ellipsometer
(แจกัน) (JA Woollam Co. , Inc) ในช่วงความยาวคลื่นตั้งแต่
300 นาโนเมตรถึง 800 นาโนเมตรที่มุม 70 ?. การดูดกลืนแสง, การส่งผ่าน
ที่ถูกบันทึกไว้โดยใช้ UV-Vis spectrophotometer
(Shimadzu) พร้อมช่วงของความยาวคลื่น 200 นาโนเมตร
800 นาโนเมตร

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รังสี ( 40 กิโล มา 30 ) ในขั้นตอนของ 0.01 ที่อัตราการสแกน7 นาทีจาก 20 ถึง 70 ภายใต้ความดันบรรยากาศส่วนค่าคงตัว และความหนาของฟิล์มมีลักษณะการใช้ตัวแปรมุมทางลิปโซมิเตอร์( แจกัน ) ( j.a. woollam Co . , Inc ) ที่ความยาวคลื่นตั้งแต่300 nm 800 nm เป็นมุม 70 การดูดกลืนแสง , การส่งผ่านบันทึกการใช้ UV Spectrophotometer และธนาคารแห่งประเทศไทย( Shimadzu ) ตามช่วงของความยาวคลื่น 200 นาโนเมตรจาก800 nm