The plasma modified surfaces were a

The plasma modified surfaces were analyzed by means of contact angle measurement, surface energy, attenuated total reflection-infrared spectroscopy, X-ray photoelectron spectroscopy, scanning electron microscopy, energy dispersive X-ray sulfur mapping and atomic force microscopy

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

แก้ไขพื้นผิวถูกวิเคราะห์ โดยการวัดมุมสัมผัส พลังงานพื้นผิว อินฟราเรดสะท้อน attenuated รวมสเปกโทรสโก X-ray photoelectron สเปกโทรส โก การสแกนชาวดัตช์ พลาสม่าพลังงาน dispersive X-ray ซัลเฟอร์การทำแผนที่ และอะตอมบังคับกล้องจุลทรรศน์

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

พื้นผิวการแก้ไขพลาสม่าที่ได้มาวิเคราะห์โดยใช้วิธีการวัดมุมสัมผัสพลังงานพื้นผิว, ลดการสะท้อนอินฟราเรดสเปกโทรสโกรวม, X-ray โฟโตอิเล็กตรอนสเปกโทรสโก, กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนทำแผนที่พลังงานกระจาย X-ray กำมะถันและกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม