X-ray diffraction(XRD) patterns of

X-ray diffraction
(XRD) patterns of different powders were recorded between
of 5◦ and 80◦ (2) by a Jeol 8030 diffractometer (Cu K radiation).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์มีบันทึกลวดลาย (XRD) ของผงต่าง ๆ ระหว่าง5◦ และ 80◦ (2) โดยเครื่อง diffractometer Jeol 8030 (Cu K รังสี)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

X-ray การเลี้ยวเบน
(XRD) รูปแบบที่แตกต่างกันของผงที่ถูกบันทึกไว้ระหว่าง
ของ5◦และ80◦ (2) โดย Jeol 8030 diffractometer (Cu K รังสี)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์( XRD ) รูปแบบของผงที่แตกต่างกันที่ถูกบันทึกไว้ระหว่าง5 ◦และ 80 ◦ ( 2 ) โดยจอล 8030 ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ ( Cu K รังสี )