Examples from practical application

Examples from practical applications
The XDLM measurement system is frequently used to
measure coatings such as Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/
Ni or Sn/Ni on various substrate materials (e.g. Cu
or Fe alloys) on connectors and contacts. Often, the
functional areas are small structures such as tips or
peaks, for which either very small apertures or apertures
fitted to the shape of the specimen must be used,
in order to keep the influence of geometry to a minimum.
For example, when performing measurements
on oblong structures, slot apertures are used for maximum
intensity.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ตัวอย่างจากการใช้งานจริง
ระบบการวัด XDLM มักจะถูกใช้ในการ
วัดการเคลือบเช่น Au / ต่ำ, Au / PdNi / ต่ำ, AG /
Ni หรือ Sn / ต่ำบนวัสดุพื้นผิวที่แตกต่างกัน (เช่นทองแดง
หรือโลหะผสม Fe) ในการเชื่อมต่อและการติดต่อ บ่อยครั้งที่
พื้นที่การทำงานที่มีโครงสร้างขนาดเล็กเช่นเคล็ดลับหรือ
ยอดเขาซึ่งทั้งช่องขนาดเล็กมากหรือช่อง
พอดีกับรูปร่างของชิ้นงานที่จะต้องใช้
เพื่อให้อิทธิพลของรูปทรงเรขาคณิตให้น้อยที่สุด.
ยกตัวอย่างเช่นเมื่อดำเนินการ การวัด
โครงสร้างเป็นรูปสี่เหลี่ยมผืนผ้า, ช่องช่องที่ใช้สำหรับสูงสุด
เข้ม

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

จากตัวอย่างการใช้งานจริง
xdlm เป็นระบบการวัดที่ใช้บ่อย

วัดเคลือบเช่น Au / N Au / Ag / สาหร่าย / นิ
ฉันหรือ SN / N บนพื้นผิววัสดุต่างๆ ( เช่นทองแดงหรือโลหะผสมเหล็ก
) ในการเชื่อมต่อและการติดต่อ มักจะ ,
พื้นที่ใช้สอย มีโครงสร้างขนาดเล็ก เช่น เคล็ดลับหรือ
ยอด ซึ่งให้แสง หรือแสง
ขนาดเล็กมากพอดีกับรูปร่างของชิ้นงานต้องใช้
เพื่อให้อิทธิพลของรูปทรงเรขาคณิตให้น้อยที่สุด .
ตัวอย่างเช่นเมื่อแสดงการวัด
บนโครงสร้างรูปสี่เหลี่ยมผืนผ้า , แสงช่องที่ใช้สำหรับความเข้มสูงสุด