X-ray powder diffraction (XRD) anal

X-ray powder diffraction (XRD) analysis was conducted out on a Philips X’Pert diffractometer at a scanning rate of 21 per minute with 2y ranging from 10 to 70, using graphite monochromated CuKa1 radiation (l=0.154056 nm) at 30 kV accelerating voltage and 40 mA current. The morphology of the prepared particles was observed by field emission scanning electrical microscopy (FE-SEM, HITACHIS-3400,Japan) at an acceleration voltage of 10kV and transmission electron microscopy(TEM,JEOL JEM-2010, Japan) operated at 200 kV . The attachment of selected area electron diffraction (SAED) of JEM-2010 was used to get the crystallographic information. Phase transition temperature and its hysteresis property were measured by differential scanning calorimetry (DSC120,SEIKO,Japan) in a heating or cooling rate at 2 C/min with a liquid nitrogen cooling unit. X-ray photoelectron spectra (XPS) were collected on X-ray photoelectron spectrometer (S probe, Thermo VG Scientific, United Kingdom) with an exciting source of MgKa (1253.6 eV). To analyse the content of tungsten in the final products quantitatively, X-ray fluorescence (XRF) technology was employed(X-ray fluorescence spectrometer, Lab Center XRF-1500,Shimadzu,Japan). Incident X-ray was excited from rhodium target at accelerating voltage of 40kV and 95mA current and separated by LiF crystal. For vanadium, the intensity of VKa line (centred at76.91) was detected on the range from 751 to 791 at the step of 0.10. For tungsten, the intensity of WLa line (centred at 43.021) was detected on the range from 41 to 45 at the step of 0.021. Working curve method was used to calculate the contents of the elements in the samples. Standard samples with tungsten content of 0,1,2 and 3at.% were fabricated by mixture high purity VO2 and WO3.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ผง X-ray diffraction การวิเคราะห์ (XRD) ได้ดำเนินการออก diffractometer Philips x'pert ในอัตราที่สแกนจาก 21 ต่อนาทีกับ 2y ตั้งแต่ 10-70 ใช้กราไฟท์ monochromated cuka1 รังสี (l = 0.154056 นาโนเมตร) วันที่ 30 KV เร่ง แรงดันไฟฟ้าและ 40 mA กระแส ลักษณะทางสัณฐานวิทยาของอนุภาคที่เตรียมไว้ก็สังเกตเห็นโดยการปล่อยสนามกล้องจุลทรรศน์ไฟฟ้า (FE-SEM, hitachis-3400,ญี่ปุ่น) ที่ระดับแรงดันไฟฟ้าที่เร่งความเร็วของ 10kV และกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนเกียร์ (TEM, Jeol Jem, 2010, ญี่ปุ่น) ทำงานที่ 200 KV สิ่งที่แนบมาของเลนส์ที่เลือกพื้นที่อิเล็กตรอน (Saed) จาก Jem, 2010 ถูกใช้ในการได้รับข้อมูลที่ crystallographic อุณหภูมิช่วงหัวเลี้ยวหัวต่อและทรัพย์สิน hysteresis ที่ถูกวัดโดยวัดความร้อนสแกน (dsc120, SEIKO,ญี่ปุ่น) ในความร้อนหรืออัตราการระบายความร้อนที่ 2 C / นาทีกับหน่วยเย็นไนโตรเจนเหลว X-ray สเปกตรัม (XPS) ถูกรวบรวมไว้ในสเปกโตรมิเตอร์ไฟฟ้าจากแสง X-ray (s probe, Thermo VG ทางวิทยาศาสตร์, สหราชอาณาจักร) มีแหล่งที่มาที่น่าตื่นเต้นของ mgka (1,253.6 EV) การวิเคราะห์เนื้อหาของทังสเตนในผลิตภัณฑ์ขั้นสุดท้ายปริมาณ,X-ray เทคโนโลยีการเรืองแสง (XRF) ถูกจ้างมา (X-ray เรืองแสงสเปกโตรมิเตอร์, ห้องปฏิบัติการศูนย์ XRF-1500, Shimadzu, ญี่ปุ่น) เหตุการณ์ที่เกิดขึ้น X-ray ก็ตื่นเต้นจากเป้าหมายโรเดียมเร่งแรงดันไฟฟ้าของ 40kv และ 95ma ปัจจุบันและแยกจากกันโดย LIF คริสตัล สำหรับวาเนเดียมความเข้มของ vka สาย (ศูนย์กลาง at76.91) ถูกตรวจพบในช่วง 751-791 ขั้นตอน 0.10 สำหรับทังสเตนความเข้มของ wla สาย (แน่นิ่งอยู่ที่ 43.021) ถูกตรวจพบในช่วง 41-45 ที่ขั้นตอนของ 0.021 วิธีการทำงานของเส้นโค้งถูกนำมาใช้ในการคำนวณปริมาณธาตุในตัวอย่าง ตัวอย่างมาตรฐานที่มีเนื้อหาทังสเตนจาก 0,1,2 และ 3AT.% ถูกประดิษฐ์โดยมีความบริสุทธิ์สูงส่วนผสม VO2 และ WO3

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เอ็กซ์เรย์ผงการเลี้ยวเบน (XRD) วิเคราะห์วิธีออก diffractometer X'Pert ฟิลิปส์ที่ 21 ต่อนาทีกับ 2y ตั้งแต่ 10 ถึง 70 ใช้แกรไฟต์ monochromated CuKa1 รังสีอัตราการสแกน (l = 0.154056 nm) ที่ 30 kV เร่ง 40 mA กระแสและแรงดันไฟฟ้า สัณฐานวิทยาของอนุภาคพร้อมถูกตรวจสอบ โดยการสแกนไฟฟ้า microscopy (FE SEM, HITACHIS-3400 มลพิษฟิลด์ญี่ปุ่น) ที่มีแรงเร่ง 10kV และส่งอิเล็กตรอน microscopy (ยการ JEOL JEM 2010 ญี่ปุ่น) ดำเนินการ 200 kV สิ่งที่แนบของการเลี้ยวเลือกตั้งอิเล็กตรอนเบน (SAED) ของ JEM 2010 ถูกใช้เพื่อรับข้อมูล crystallographic ขั้นตอนการเปลี่ยนอุณหภูมิและคุณสมบัติสัมผัสถูกวัด โดยส่วนแกน calorimetry (DSC120, SEIKOญี่ปุ่น) ในอัตราเครื่องทำความร้อน หรือระบายความร้อนที่ 2 C/นาที กับไนโตรเจนเหลวที่ความร้อนต่อหน่วย แรมสเป็คตรา photoelectron เอกซเรย์ (XPS) ถูกเก็บรวบรวมในเอกซเรย์ photoelectron สเปกโตรมิเตอร์ (S โพรบ เทอร์โม VG วิทยาศาสตร์ สหราชอาณาจักร) มีแหล่งน่าตื่นเต้นของ MgKa (1253.6 eV) การวิเคราะห์เนื้อหาของทังสเตนในผลิตภัณฑ์สุดท้าย quantitatively เอ็กซ์เรย์ fluorescence (XRF) เทคโนโลยีถูกสเปกโตเจ้า (เอ็กซ์เรย์ fluorescence รมิเตอร์ XRF ศูนย์แล็บ-1500, Shimadzu ญี่ปุ่น) เอ็กซ์เรย์เหตุการณ์ตื่นเต้นจากโรเดียมเป้าหมายที่เร่งแรงดัน 40kV และ 95mA ปัจจุบัน และแยก โดยปรัอากาศคริสตัล สำหรับวาเนเดียม ความเข้มของ VKa บรรทัด (centred at76.91) พบในช่วงตั้งแต่ 751 ถึง 791 ในขั้นตอนของ 0.10 สำหรับทังสเตน ความเข้มของเส้น WLa (ศูนย์กลางที่ 43.021) พบในช่วงตั้งแต่ 41 ถึง 45 ในขั้นตอนของ 0.021 ทำงานวิธีโค้งใช้ในการคำนวณเนื้อหาขององค์ประกอบในตัวอย่าง ตัวอย่างมาตรฐาน ด้วยทังสเตนเนื้อหาของ 0,1,2 และ 3at.% ได้หลังสร้าง โดยผสมผสานระหว่างความบริสุทธิ์สูง VO2 และ WO3

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

X - ray ผงพร่าเลือนของ( xrd )การวิเคราะห์เป็นไปบน Philips X 'กล้า diffractometer ที่อัตราการสแกนของ 21 ต่อนาทีพร้อมด้วย 2 Y ตั้งแต่ 10 - 70 ,การใช้ตะกั่วดำ monochromated cuka 1 รังสี( L = 0.154056 nm )ที่ 30 kV เร่งความเร็วและแรงดันไฟฟ้า 40 mA ในปัจจุบัน. รูปร่างลักษณะของหินที่มีเศษสิ่งของที่เตรียมไว้พบว่าฟิลด์การสแกนด้วยการลดการปลดปล่อยไฟฟ้าการตรวจวิเคราะห์สารเคมี(แซนตาเฟ - ความหมายอย่างไรต่อ hitachis -3400ญี่ปุ่น)ที่ระดับแรงดันไฟฟ้าการเร่งความเร็วที่ 10 kV และการส่งข้อมูลการตรวจวิเคราะห์สารเคมีอิเลคตรอน(เปิดระบบ jeol JEM 2010 ญี่ปุ่น)ดำเนินการที่ 200 kV เอกสารแนบของที่เลือกบริเวณอิเลคตรอนพร่าเลือนของ(แคแสด)ของ JEM 2010 ถูกใช้เพื่อรับข้อมูล crystallographic ที่ ช่วง อุณหภูมิ การเปลี่ยนแปลงและเป็นที่พักที่ hysteresis ถูกวัดโดยส่วนที่แตกต่างการสแกนการวัดความร้อน( DSC 120 ผู้แทนญี่ปุ่น)ในการระบายความร้อนหรือเครื่องทำความร้อนที่อัตราดอกเบี้ยที่ 2 C /นาทีพร้อมด้วยชุดระบายความร้อนไนโตรเจนเหลวที่. X - ray photoelectron Spectra ( XPS )จะถูกรวบรวมบน photoelectron X - ray ควอดรูเปิลแมสสเปคโต(ตรวจสอบ S แบบร้อน VG ทางวิทยาศาสตร์สหราชอาณาจักร)พร้อมด้วยแหล่งที่มาที่น่าตื่นตาตื่นใจของ mgka ( 1253.6 EV ) การวิเคราะห์เนื้อหาของทังสเตนใน ผลิตภัณฑ์ ที่ขนาดX - ray คุณสมบัติฟลูเรซ - เซ็นซ(ใช้)เทคโนโลยีได้ใช้(คุณสมบัติฟลูเรซ - เซ็นซ X - ray ควอดรูเปิลแมสสเปคโตห้องปฏิบัติการศูนย์ Fluorescent -1500 shimadzu ญี่ปุ่น) เหตุการณ์ X - ray รู้สึกตื่นเต้นจากเป้าหมายธาตุโร - เดียมที่ระดับแรงดันไฟฟ้าเร่งตัวขึ้นจากปัจจุบัน 40 kV 95 mA และแยกออกจากกันโดยคริสตัล lif สำหรับเความเข้มของแสงของสาย vka (เป็นศูนย์กลาง ที่ 76.91 )มีการตรวจพบในช่วงตั้งแต่ 751 ถึง 791 ในขั้นตอนที่ 0.10 สำหรับทังสเตนความเข้มของสัญญาณ WLA (เป็นศูนย์กลางที่ 43.021 )มีการตรวจพบในช่วงตั้งแต่ 41 ถึง 45 ขั้นตอนของ 0.021 การทำงานวิธีความโค้งมนได้ถูกใช้ในการคำนวณเนื้อหาขององค์ประกอบในตัวอย่างนี้ได้ ตัวอย่างแบบมาตรฐานพร้อมด้วยเนื้อหาทังสเตนของ 0,1,2 และ 3 ที่.ได้มีวิชาความรู้ความบริสุทธิ์สูงโดยผสมผสาน VO 2 และ 3