2.2.3. Lactose estimationLactose wa

2.2.3. Lactose estimation

Lactose was estimated according to Lane Eynon method (Lane & Eynon, 1923).

2.2.4. Scanning electron microscopy

The microstructure of lactose–zinc complex was examined by scanning electron microscopy (SEM). Powder samples of lactose–zinc complex was sprayed on double adhesive tape mounted on aluminum stub. Mounted samples were coated with gold (20 nm thickness) on ion coater (IB-3 ion coater, Eiko, Tokyo, Japan) at 6.7–9.3 Pa for 4 min maintaining the ion current at 6 mA. Samples were finally examined by SEM (EVO 18 special edition, Zeiss, Tokyo, Japan) at an acceleration voltage of 15 kV under high vacuum (1.1 × 10−2 Pa) and micrographs were recorded.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.2.3 การประมาณย่อยแลคโตสแล็กโทสถูกประเมินตามวิธี Eynon เลน (Lane & Eynon, 1923)2.2.4 การสแกน microscopy อิเล็กตรอนต่อโครงสร้างจุลภาคของคอมเพล็กซ์แล็กโทส – สังกะสีถูกตรวจสอบ โดยการสแกน microscopy อิเล็กตรอน (SEM) ตัวอย่างผงคอมเพล็กซ์แล็กโทส – สังกะสีถูกพ่นบนเทปกาวคู่ที่ติดตั้งบนขั้วอลูมิเนียม ตัวอย่างเมาท์ถูกเคลือบ ด้วยทอง (20 nm ความหนา) กับไอออน coater (IB-3 ไอออน coater, Eiko โตเกียว ญี่ปุ่น) ที่ป่า 6.7-9.3 สำหรับรักษาไอออนปัจจุบันที่ 6 นาที 4 mA ตัวอย่างได้ในที่สุดตรวจสอบ โดย SEM (EVO 18 รุ่นพิเศษ Zeiss โตเกียว ญี่ปุ่น) ที่แรงเร่ง 15 kV ภายใต้สุญญากาศสูง (1.1 × 10−2 Pa) และ micrographs ถูกบันทึก

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.2.3 2.2.3. Lactose estimation

Lactose was estimated according to Lane Eynon method (Lane & Eynon, 1923).

2.2.4. Scanning electron microscopy

The microstructure of lactose–zinc complex was examined by scanning electron microscopy (SEM). Powder samples of lactose–zinc complex was sprayed on double adhesive tape mounted on aluminum stub. Mounted samples were coated with gold (20 nm thickness) on ion coater (IB-3 ion coater, Eiko, Tokyo, Japan) at 6.7–9.3 Pa for 4 min maintaining the ion current at 6 mA. Samples were finally examined by SEM (EVO 18 special edition, Zeiss, Tokyo, Japan) at an acceleration voltage of 15 kV under high vacuum (1.1 × 10−2 Pa) and micrographs were recorded.

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.2.3 . การประมาณค่า

การประมาณตามเลน ( Lane เอเนิ่นวิธี&เอเนิ่น 1923 )

2.2.4 . กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน

โครงสร้างจุลภาคของแลคโตสและสังกะสีที่ถูกตรวจสอบโดยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ตัวอย่างของนมผงสังกะสีที่ซับซ้อนและถูกพ่นบนเทปกาวติดอลูมิเนียมคู่ต้นขั้วติดตั้งตัวอย่างที่เคลือบด้วยทองหนา 20 nm ) ไอออน ( ไอออน ib-3 เครื่องเคลือบเครื่องเคลือบ เอโกะ , โตเกียว , ญี่ปุ่น ) ที่ 6.7 – 9.3 PA 4 มินรักษากระแสไอออนที่ 6 มา ตัวอย่างสุดท้ายตรวจสอบด้วย SEM ( Evo 18 Special Edition , Zeiss , โตเกียว , ญี่ปุ่น ) ที่เร่งแรงดัน 15 kV ภายใต้สุญญากาศ ( 1 × 10 − 2 ป่า ) และ micrographs



ถูกบันทึกไว้