Forsecondary electron (SE) and back

For
secondary electron (SE) and backscattered electron (BSE) imaging
the incident electron beam was kept to 15 kV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สำหรับอิเล็กตรอนทุติย (SE) และการถ่ายภาพแสงกลับอิเล็กตรอน (BSE)ลำแสงตกกระทบอิเล็กตรอนถูกเก็บ 15 kV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สำหรับ
อิเล็กตรอนทุติยภูมิ (SE) และอิเล็กตรอนที่สะท้อนกลับ (BSE) การถ่ายภาพ
ลำแสงอิเล็กตรอนเหตุการณ์ที่เกิดขึ้นถูกเก็บไว้ถึง 15 กิโลโวลต์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สำหรับอิเล็กตรอนทุติยภูมิ ( SE ) และ backscattered อิเล็กตรอน ( BSE ) ภาพเหตุการณ์ลำแสงอิเล็กตรอนที่ถูกเก็บไว้ 15 kV .