Transmission electron microscopy (T

Transmission electron microscopy (TEM) inspections of the specimen revealed a
high degree of graphitization localized in some regions of the sample and graphitization was also confirmed by wide angle X-ray scattering (WAXS) measurements, which revealed diffraction peaks corresponding to graphite lattice inter-plane distances with no preferred orientation.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ส่งตรวจสอบ microscopy อิเล็กตรอน (ยการ) ของการเปิดเผยตัวระดับสูงเป็นภาษาท้องถิ่นในบางภูมิภาคของตัวอย่างและ graphitization graphitization ยังยืนยันการรับมุมกว้างเอกซเรย์ scattering (WAXS) วัด ซึ่งเปิดเผยยอดการเลี้ยวเบนที่สอดคล้องกับระยะทางระหว่างแหวนโครงตาข่ายประกอบก้านกับแนวที่ต้องการไม่

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนเกียร์ (TEM) การตรวจสอบของตัวอย่างพบว่า
ระดับสูงของ graphitization ภาษาท้องถิ่นในบางภูมิภาคของกลุ่มตัวอย่างและ graphitization ยังได้รับการยืนยันจากมุมกว้าง X-ray กระเจิง (WAXS) วัดซึ่งเผยให้เห็นยอดการเลี้ยวเบนสอดคล้องกับกราไฟท์ตาข่ายระหว่าง ระยะทางเครื่องบินโดยไม่มีทิศทางที่ต้องการ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( TEM ) ตรวจสอบชิ้นงานเปิดเผย
ระดับสูงของกราฟิไทเซชั่นถิ่นในบางภูมิภาคของตัวอย่างและกราฟิไทเซชั่นยังได้รับการยืนยันโดยการเอ็กซ์เรย์ มุมกว้าง ( วัด waxs ) ซึ่งเปิดเผยโดยยอดที่สอดคล้องกับกราไฟท์เครื่องบินที่ไม่มีตาข่าย อินเตอร์ ระยะทางที่ต้องการใช้